哈(ha)爾(er)濱高(gao)低溫(wen)試(shi)驗(yan)箱標(biao)準(zhun)溫(wen)度(du)範圍(wei)：0~150℃, -20~150℃, -30~150℃, -40~150℃, -50~150℃ -60~150℃ , -70~150℃溫(wen)度(du)波動(dong)度(du)：≤正(zheng)負(fu)0.5℃溫(wen)度(du)均(jun)勻(yun)度：≤正(zheng)負(fu)2升(sheng)降溫(wen)速率：平均(jun)升(sheng)溫(wen)速率：2~3℃/min,平均(jun)降溫(wen)速率：0.7~1℃/min

兩箱式(shi)冷熱沖擊(ji)試(shi)驗(yan)箱&兩槽式(shi)高(gao)低溫(wen)沖擊(ji)試(shi)驗(yan)箱。該(gai)產(chan)品適用(yong)於電(dian)子元氣(qi)件的安全(quan)性能(neng)測(ce)試(shi)提(ti)供(gong)可靠(kao)性試驗(yan)、產品篩選試(shi)驗(yan)等，同時通過(guo)此裝備試驗，可提(ti)高(gao)產品的可靠(kao)性和進行(xing)產品的質量控制。高(gao)低溫(wen)沖擊(ji)試(shi)驗(yan)箱是(shi)航(hang)空、汽(qi)車、家(jia)電(dian)、科研等領(ling)域*的測試設備。

壹(yi)、 性能(neng)指(zhi)標(biao)：$n1. 產(chan)品名(ming)稱：型(xing)冷熱沖擊(ji)試(shi)驗(yan)機$n型(xing)號(hao)：JW-TS-50D$n2. 樣品限(xian)制：$n本(ben)試驗(yan)設(she)備禁止：$n易燃(ran)、爆(bao)炸(zha)、易揮發(fa)性物質(zhi)試樣的試驗及儲(chu)存(cun)$n腐(fu)蝕性物質(zhi)試樣的試驗及儲(chu)存(cun)$n生物試(shi)樣的試驗或(huo)儲(chu)存(cun)$n強(qiang)電(dian)磁發(fa)射(she)源(yuan)試(shi)樣的試驗及儲(chu)存(cun)$n3. 容(rong)積和尺寸(cun)：$n3.1標(biao)稱(cheng)內容積(ji)（L）：50L$n3.2標(biao)稱(cheng)內箱尺(chi)寸(cun)（mm）：W 350×H 350×D400$n3.3標(biao)稱(cheng)內箱尺(chi)寸(cun)（mm）：W 1780×H

兩箱平移(yi)式(shi)冷熱沖擊(ji)試(shi)驗(yan)箱JW-4006A 1.工(gong)作(zuo)室尺(chi)寸(cun)：900×1000×1100 mm (深×寬(kuan)×高(gao)) 2.平移(yi)提(ti)籃(lan)尺(chi)寸(cun)：900×1000×1100 mm (深×寬(kuan)×高(gao)) 3.沖擊(ji)方(fang)式(shi)：兩箱提(ti)籃(lan)水(shui)平氣(qi)動(dong)移(yi)動式

天(tian)津(jin)三(san)箱(xiang)式冷熱沖擊(ji)試(shi)驗(yan)箱 1、標(biao)稱(cheng)內容積(ji)（L）：50L 2、環境(jing)溫(wen)度(du)： 5～35℃ 3、相(xiang)對濕(shi)度≤85%RH、循(xun)環冷卻水(shui)溫(wen)≤30℃ 循(xun)環(huan)冷卻水(shui)供(gong)水壓力為0.25～0.4MPa

重(zhong)慶三(san)箱(xiang)式冷熱沖擊(ji)試(shi)驗(yan)箱 1、標(biao)稱(cheng)內容積(ji)（L）：50L 2、環境(jing)溫(wen)度(du)： 5～35℃ 3、相(xiang)對濕(shi)度≤85%RH、循(xun)環冷卻水(shui)溫(wen)≤30℃ 循(xun)環(huan)冷卻水(shui)供(gong)水壓力為0.25～0.4MPa