冷(leng)熱沖擊試(shi)驗箱(xiang)廠家供(gong)應(ying)

兩箱(xiang)式冷(leng)熱沖擊試(shi)驗箱(xiang)&兩槽(cao)式高(gao)低(di)溫沖擊試(shi)驗箱(xiang)。該產(chan)品(pin)適(shi)用(yong)於電(dian)子(zi)元(yuan)氣件(jian)的安全(quan)性(xing)能測(ce)試提供(gong)可(ke)靠(kao)性(xing)試(shi)驗、產(chan)品(pin)篩(shai)選試(shi)驗(yan)等，同時通(tong)過此(ci)裝(zhuang)備(bei)試驗(yan)，可(ke)提高(gao)產(chan)品(pin)的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)和進(jin)行(xing)產(chan)品(pin)的(de)質量(liang)控制(zhi)。高(gao)低(di)溫沖擊試(shi)驗箱(xiang)是航(hang)空、汽(qi)車(che)、家電(dian)、科研等領域*的測(ce)試設(she)備(bei)。

機械(xie)鈑金(jin)結(jie)構　　全(quan)部(bu)功(gong)能采用(yong)計算機控制(zhi)，系(xi)自(zi)主(zhu)開發(fa)的(de)軟(ruan)件，有(you)良(liang)好的(de)操(cao)作(zuo)界面，使(shi)用(yong)戶的(de)操(cao)作(zuo)和監測(ce)都更(geng)加簡(jian)單(dan)和直觀，保(bao)持(chi)功(gong)能可(ke)以(yi)使(shi)妳(ni)正(zheng)在(zai)運行(xing)的(de)程序保持在(zai)目前(qian)的(de)狀(zhuang)態(tai)下(xia)，可(ke)以(yi)臨時(shi)更(geng)改(gai)此(ci)程序段的數(shu)值，可(ke)以(yi)在(zai)屏(ping)幕(mu)上設(she)置時間(jian)和參(can)數(shu)，使(shi)制冷(leng)、加熱(re)、提藍傳送(song)切(qie)換，按(an)設定(ding)值自(zi)動進(jin)行(xing)。

溫度沖擊試(shi)驗箱(xiang)

^[1]

　冷(leng)箱(xiang)、熱箱(xiang)獨立(li)控制(zhi)，箱(xiang)門互相(xiang)獨(du)立(li)，擴大(da)試驗(yan)箱(xiang)的使(shi)用(yong)範圍(wei)（壹(yi)箱(xiang)三用(yong)）。

　　產品(pin)保(bao)溫效果(guo)可(ke)以(yi)得到充分(fen)保(bao)證(zheng)。

　　試驗箱(xiang)門與循環(huan)風(feng)機，提藍傳動等互鎖，保護(hu)操(cao)作(zuo)者(zhe)的(de)安全(quan)，壹(yi)旦(dan)打開箱(xiang)門，循(xun)環(huan)風(feng)機和提藍傳動的電源會(hui)被自(zi)動切斷。

　　在(zai)箱(xiang)頂(ding)有標準(zhun)引線孔管，方(fang)便(bian)用(yong)戶向(xiang)箱(xiang)內引(yin)入(ru)傳感(gan)器(qi)線(xian)，檢測(ce)電纜等類(lei)型(xing)引(yin)線(xian)。

控(kong)制(zhi)系(xi)統(tong)

　　低(di)溫區、高溫區轉換時(shi)間(jian)小(xiao)於等於15秒。

　　溫度恢復時(shi)間(jian)小(xiao)於等於5分(fen)鐘。

符(fu)合(he)標準(zhun)

　　GB/T2423.1.2-2001 GJB150.5 GB10592-89

參(can)數(shu)列表

選型(xing)

溫度運行(xing)控(kong)制系(xi)統(tong)

標準(zhun)配置

　　多層(ceng)加熱(re)觸霜(shuang)附(fu)照明玻(bo)璃(li)視(shi)窗(chuang)1套、試(shi)品(pin)架(jia)2個、測(ce)試引(yin)線(xian)孔(kong)（25、50mm）1個。

安全(quan)保(bao)護(hu)

　　漏(lou)電、短路(lu)、超(chao)溫、電機過熱(re)、壓(ya)縮(suo)機超(chao)壓(ya)、過(guo)載(zai)、過(guo)電(dian)流(liu)保(bao)護(hu)。

溫度轉(zhuan)換時(shi)間(jian)

　　從低(di)溫區到高溫區或 <, /SPAN>從高(gao)溫區到低溫區 ≤15S。

溫度回(hui)復時間(jian)

　　≤5min（與溫度恢復條件有(you)關，既(ji)冷(leng)卻(que)水(shui)溫、暴露溫差(cha)、恒(heng)溫時間(jian)、樣品(pin)重(zhong)量有(you)關。

溫度沖擊方(fang)法

　　垂直(zhi)兩箱(xiang)法 / 垂直(zhi)三箱(xiang)法。

二(er)槽(cao)式冷(leng)熱沖擊試(shi)驗箱(xiang)JW-WDCS-100 兩箱(xiang)式冷(leng)熱沖擊試(shi)驗箱(xiang)&兩槽(cao)式高(gao)低(di)溫沖擊試(shi)驗箱(xiang)。該產(chan)品(pin)適(shi)用(yong)於電(dian)子(zi)元(yuan)氣件(jian)的安全(quan)性(xing)能測(ce)試提供(gong)可(ke)靠(kao)性(xing)試(shi)驗、產(chan)品(pin)篩(shai)選試(shi)驗(yan)等，同時通(tong)過此(ci)裝(zhuang)備(bei)試驗(yan)，可(ke)提高(gao)產(chan)品(pin)的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)和進(jin)行(xing)產(chan)品(pin)的(de)質量(liang)控制(zhi)。高(gao)低(di)溫沖擊試(shi)驗箱(xiang)是航(hang)空、汽(qi)車(che)、家電(dian)、科研等領域*的測(ce)試設(she)備(bei)。