低(di)氣壓試驗箱(xiang)JW-DQY-1000;低(di)氣壓老化箱(xiang)JW-DQY-1000;高(gao)低(di)溫低(di)氣壓試驗箱(xiang)JW-DQY-1000;溫濕(shi)類(lei)★恒(heng)溫恒(heng)濕(shi)試(shi)驗箱(xiang)、高(gao)低(di)溫濕(shi)熱(re)試驗(yan)箱(xiang)、快速溫度變化試(shi)驗箱(xiang)、步(bu)入(ru)式高(gao)低(di)溫濕(shi)熱(re)試驗(yan)室(shi)、冷(leng)熱沖擊(ji)試驗箱(xiang)、 低(di)氣壓試驗箱(xiang)、高(gao)溫老化房、溫度濕(shi)度振動(dong)綜合(he)試驗(yan)箱(xiang)、高(gao)溫試驗箱(xiang); ;王(wang)

低(di)氣壓試驗箱(xiang)JW-DQY-1000;低(di)氣壓老化箱(xiang)JW-DQY-1000;高(gao)低(di)溫低(di)氣壓試驗箱(xiang)JW-DQY-1000;溫濕(shi)類(lei)★恒(heng)溫恒(heng)濕(shi)試(shi)驗箱(xiang)、高(gao)低(di)溫濕(shi)熱(re)試驗(yan)箱(xiang)、快速溫度變化試(shi)驗箱(xiang)、步(bu)入(ru)式高(gao)低(di)溫濕(shi)熱(re)試驗(yan)室(shi)、冷(leng)熱沖擊(ji)試驗箱(xiang)、 低(di)氣壓試驗箱(xiang)、高(gao)溫老化房、溫度濕(shi)度振動(dong)綜合(he)試驗(yan)箱(xiang)、高(gao)溫試驗箱(xiang); ;王(wang)

低(di)氣壓試驗箱(xiang)JW-DQY-1000;低(di)氣壓老化箱(xiang)JW-DQY-1000;高(gao)低(di)溫低(di)氣壓試驗箱(xiang)JW-DQY-1000;溫濕(shi)類(lei)★恒(heng)溫恒(heng)濕(shi)試(shi)驗箱(xiang)、高(gao)低(di)溫濕(shi)熱(re)試驗(yan)箱(xiang)、快速溫度變化試(shi)驗箱(xiang)、步(bu)入(ru)式高(gao)低(di)溫濕(shi)熱(re)試驗(yan)室(shi)、冷(leng)熱沖擊(ji)試驗箱(xiang)、 低(di)氣壓試驗箱(xiang)、高(gao)溫老化房、溫度濕(shi)度振動(dong)綜合(he)試驗(yan)箱(xiang)、高(gao)溫試驗箱(xiang)。

廣(guang)東(dong)高(gao)低(di)溫低(di)氣壓試驗箱(xiang) 溫度範圍(wei) -70~150℃ 濕(shi)度範圍(wei) 20˜98% 溫度波動(dong)度：≤正負0.5℃（常壓、空載(zai)時(shi)，恒(heng)定(ding)狀態(tai)） 溫度均勻(yun)度：≤2℃（常壓、空載(zai)時(shi)，恒(heng)定(ding)狀態(tai)） 溫度偏差(cha)：≤正負2℃（常壓、空載(zai)時(shi)，恒(heng)定(ding)狀態(tai)） 降溫速率(lv)：0.8~1℃/min，升溫速率(lv)：2~3℃

福(fu)建(jian)高(gao)低(di)溫低(di)氣壓試驗箱(xiang) 溫度範圍(wei) -70~150℃ 濕(shi)度範圍(wei) 20˜98% 溫度波動(dong)度：≤正負0.5℃（常壓、空載(zai)時(shi)，恒(heng)定(ding)狀態(tai)） 溫度均勻(yun)度：≤2℃（常壓、空載(zai)時(shi)，恒(heng)定(ding)狀態(tai)） 溫度偏差(cha)：≤正負2℃（常壓、空載(zai)時(shi)，恒(heng)定(ding)狀態(tai)） 降溫速率(lv)：0.8~1℃/min，升溫速率(lv)：2~3℃

江(jiang)西(xi)高(gao)低(di)溫低(di)氣壓試驗箱(xiang) 溫度範圍(wei) -70~150℃ 濕(shi)度範圍(wei) 20˜98% 溫度波動(dong)度：≤正負0.5℃（常壓、空載(zai)時(shi)，恒(heng)定(ding)狀態(tai)） 溫度均勻(yun)度：≤2℃（常壓、空載(zai)時(shi)，恒(heng)定(ding)狀態(tai)） 溫度偏差(cha)：≤正負2℃（常壓、空載(zai)時(shi)，恒(heng)定(ding)狀態(tai)） 降溫速率(lv)：0.8~1℃/min，升溫速率(lv)：2~3℃