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鹽(yan)霧(wu)試驗箱試驗溶液需用氯化鈉(na)和(he)水進行(xing)配(pei)比,金屬(shu)的(de)鹽(yan)霧(wu)腐(fu)蝕屬(shu)電(dian)化學腐(fu)蝕,鹽(yan)中(zhong)雜(za)質(zhi)的(de)多(duo)少(shao)對(dui)鹽(yan)霧(wu)試驗結(jie)果(guo)有很大(da)影響(xiang),如(ru):NaI過量時,無形(xing)中(zhong)會(hui)增加金(jin)屬(shu)間的(de)電(dian)位差(cha)或使金屬(shu)形成(cheng)保護表(biao)面(mian),從(cong)而影響(xiang)金屬(shu)腐蝕速率(lv);Cu、Ni離(li)子(zi)具有加(jia)速(su)腐蝕和幹擾試驗結(jie)果(guo)的(de)作(zuo)用,尤其(qi)是Ni鍍(du)層(ceng)、Cr鍍(du)層(ceng),與實(shi)際(ji)條(tiao)件下(xia)所得(de)結(jie)果(guo)的(de)對比(bi)性差,使中(zhong)性鹽(yan)霧(wu)試驗的(de)可靠(kao)性欠佳,因(yin)此必須嚴格(ge)控制(zhi)Cu、Ni雜(za)質(zhi)含量。
德國(guo)大(da)眾和(he)法(fa)國(guo)PSA的(de)控制(zhi)內(nei)容大(da)致相當,只(zhi)是雜質(zhi)的(de)總質(zhi)量分數(shu)有所(suo)不(bu)同(tong),二(er)者之間的(de)關系相(xiang)當於分析純(chun)NaCl與(yu)優(you)級(ji)純(chun)NaCl的(de)差異(yi)。
日(ri)產(chan)標(biao)準的(de)內(nei)容與現行(xing)的(de)GB1266-2006《化學試劑 氯化鈉(na)》大(da)致相當,但GB1266-2006僅對碘(dian)化物有要(yao)求(qiu),對Cu、Ni則(ze)無要(yao)求(qiu)。日(ri)產(chan)標(biao)準對鹽(yan)霧(wu)試驗箱用水的(de)要求(qiu)極其(qi)嚴格,其(qi)用水標(biao)準相當於GB/T6682-2008《分析實(shi)驗室(shi)用水規(gui)格(ge)和(he)試驗方(fang)法(fa)》標(biao)準中的(de)二(er)級水。這與(yu)日(ri)產(chan)對(dui)NaCl中雜質(zhi)含量的(de)要求(qiu)較為(wei)寬(kuan)松、需要嚴控水中的(de)電(dian)導率(lv)有關。這(zhe)種(zhong)苛(ke)刻的(de)試驗用水條(tiao)件將(jiang)會(hui)大(da)大(da)增加使(shi)用日(ri)產(chan)標(biao)準的(de)鹽(yan)霧(wu)試驗成本。
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