制(zhi)冷方(fang)法(fa)分為(wei)蒸氣(qi)壓縮式(shi)制(zhi)冷、吸(xi)收式(shi)制(zhi)冷、 蒸(zheng)氣(qi)噴射(she)式(shi)制(zhi)冷、氣(qi)體膨(peng)脹式(shi)制(zhi)冷、熱(re)電制(zhi)冷。在(zai)上(shang)述(shu)制(zhi)冷方(fang)法(fa)中，蒸氣(qi)壓縮制(zhi)冷是較(jiao)經(jing)濟而且(qie)應用(yong)較(jiao)廣泛的制(zhi)冷方(fang)式(shi)，亦是環(huan)境(jing)試(shi)驗設備中較(jiao)常使(shi)用(yong)的制(zhi)冷方(fang)式(shi)，其原(yuan)理(li)是利用(yong)氟(fu)利(li)昂等液(ye)體的蒸發(fa)潛(qian)熱(re)從被冷卻物體中吸(xi)熱而實(shi)現(xian)制(zhi)冷。

恒(heng)溫恒(heng)濕(shi)試(shi)驗箱(xiang)適(shi)用(yong)於(yu)儀(yi)器儀表材料、電工(gong)、電(dian)子(zi)產(chan)品、家用(yong)電器、汽(qi)摩(mo)配(pei)件(jian)、化(hua)工(gong)塗(tu)料、各(ge)種電子(zi)元器件及其他相關產(chan)品零(ling)部件(jian)在(zai)高溫(wen)、低溫、濕(shi)度(du)的環(huan)境(jing)下(xia)貯存(cun)、運(yun)輸(shu)、使用(yong)時(shi)的適應性(xing)試(shi)驗。本試(shi)驗設備主(zhu)要(yao)用(yong)於(yu)對(dui)產(chan)品按照(zhao)國家(jia)標(biao)準要(yao)求或用(yong)戶自定(ding)要(yao)求，在(zai)低溫、高溫(wen)條件下(xia)，對(dui)產(chan)品的物理以(yi)及其(qi)他相關特性(xing)進(jin)行(xing)環(huan)境(jing)模擬測(ce)試(shi)，測(ce)試(shi)後，通過(guo)檢(jian)測(ce)，來判(pan)斷產(chan)品的性(xing)能(neng)，是否(fou)仍然(ran)能(neng)夠符(fu)合(he)預(yu)定(ding)要(yao)求，以(yi)便於(yu)產(chan)品設計。

步(bu)入(ru)式(shi)恒(heng)溫恒(heng)濕(shi)試(shi)驗箱(xiang)JW-2208DC 1.內箱(xiang)尺寸：W2000X H2000X D2000mm 2.外型尺寸：約W3500X H2400X D2400mm （不(bu)含(han)循(xun)環(huan)風機） 3.溫度(du)均勻度(du)：+2～-3％（＞75％RH）±5％（≤75％RH）

可(ke)程(cheng)式(shi)恒(heng)溫恒(heng)濕(shi)試(shi)驗箱(xiang)JW-2005D 1.標(biao)稱內箱(xiang)尺寸（mm）：W 600×H 750 ×D 500 2.標(biao)稱內容(rong)積(L)：225 L 3.溫度(du)範圍：-50℃～+150℃

三層式(shi)恒(heng)溫恒(heng)濕(shi)試(shi)驗箱(xiang):溫(wen)度(du)均勻度(du)：≤2.0℃（溫度(du)均勻度(du)為每(mei)次測(ce)試(shi)中實(shi)測(ce)嘴高溫(wen)度(du)和(he)低溫度(du)之差(cha)的算術平(ping)均值(zhi)）

天(tian)津(jin)可程(cheng)式(shi)恒(heng)溫恒(heng)濕(shi)試(shi)驗箱(xiang) 標(biao)準溫(wen)度(du)範圍：0~150℃, -20~150℃, -30~150℃, -40~150℃, -50~150℃ -60~150℃ , -70~150℃ 標(biao)準濕(shi)度(du)範圍：20%~98%RH 溫度(du)波動度(du)：≤±0.5℃ 溫度(du)均勻度(du)：≤±2℃ 濕(shi)度(du)偏差(cha)度(du)：±3%RH