冷熱沖擊試驗(yan)箱使(shi)用時(shi)必(bi)須(xu)註意(yi)的(de)安(an)全(quan)事(shi)項(xiang)

冷熱沖擊試驗(yan)箱用於電(dian)子(zi)電(dian)器(qi)零(ling)組(zu)件、自動化(hua)零(ling)部件、通(tong)訊(xun)組件(jian)、汽車(che)配件、金(jin)屬、化學(xue)材(cai)料、塑膠(jiao)等行業，國防工業、航(hang)天、兵工業、BGA、PCB基(ji)扳、電(dian)子(zi)芯片(pian)IC、半導(dao)體陶磁(ci)及(ji)高(gao)分子(zi)材(cai)料之(zhi)物理(li)牲(sheng)變(bian)化,測試其(qi)材(cai)料對高(gao)、低(di)溫的反(fan)復抵(di)拉力(li)及(ji)產品(pin)於熱(re)脹(zhang)冷縮產(chan)出的(de)化(hua)學(xue)變化(hua)或物(wu)理(li)傷害，可(ke)確認(ren)產(chan)品的(de)品質,從精密的IC到重機械(xie)的組件(jian)，都(dou)會(hui)用到，是各(ge)領域(yu)對產品測(ce)試(shi)的*的(de)壹(yi)項測試箱(xiang)。那麽(me)，試驗(yan)箱威脅(xie)人身的安(an)全(quan)信息(xi)有哪(na)些：

 1、高(gao)溫燙(tang)傷(shang)，冷熱沖擊試驗(yan)箱在做(zuo)高(gao)溫試(shi)驗(yan)時(shi)箱(xiang)內(nei)溫(wen)度很高(gao)。試驗(yan)過程中(zhong)或(huo)測試(shi)剛結束時(shi)，如(ru)需打(da)開(kai)箱，開(kai)門要(yao)特(te)別(bie)小心(xin)，切記(ji)，順著(zhe)們(men)開(kai)啟的方向行走(zou)，以(yi)免(mian)燙(tang)傷。
2、低(di)溫凍傷，冷熱沖擊試驗(yan)箱在做(zuo)低(di)溫試驗(yan)時(shi)箱(xiang)內(nei)溫(wen)度很低(di)。試驗(yan)過程中(zhong)或(huo)試驗(yan)剛結束時(shi)，如(ru)需打(da)開(kai)箱門要(yao)特(te)別(bie)小心(xin)，以免(mian)凍(dong)傷。
3、高(gao)溫燙(tang)傷(shang)，冷熱沖擊試驗(yan)箱在做(zuo)高(gao)溫試(shi)驗(yan)時(shi)箱(xiang)內(nei)溫(wen)度很高(gao)。試驗(yan)過程中(zhong)或(huo)試驗(yan)剛結束時(shi)，如(ru)需打(da)開(kai)箱門要(yao)特(te)別(bie)小心(xin)，以免(mian)燙(tang)傷。
4、觸電(dian)，雖(sui)然(ran)設備(bei)具(ju)有健全(quan)的(de)防觸電(dian)措(cuo)施(shi)，但(dan)是仍(reng)然需要(yao)註意(yi)，尤(you)其(qi)是電(dian)器(qi)控(kong)制系(xi)統(tong)，工作情況(kuang)下(xia)，切勿(wu)觸摸電(dian)器(qi)部分。