振(zhen)動(dong)臺(tai)之(zhi)振(zhen)動(dong)的(de)常(chang)識(shi)二(er)

振(zhen)動(dong)臺(tai)之(zhi)振(zhen)動(dong)的(de)常(chang)識(shi)二(er)

振(zhen)動(dong)臺(tai)之(zhi)振(zhen)動(dong)的(de)常(chang)識(shi)二(er)

振(zhen)動(dong)臺(tai)之(zhi)振(zhen)動(dong)測試必(bi)須知道(dao)的常(chang)識(shi)二(er)

    什(shen)麽是(shi)掃頻(pin)循環？

    掃頻(pin)循環：在(zai)規定的頻(pin)率範(fan)圍內往(wang)返掃描壹次(ci)：

    例(li)如(ru)：5Hz→50Hz→5Hz,從(cong)5Hz掃描到(dao)50Hz後再(zai)掃描到(dao)5Hz。

    2、什(shen)麽是(shi)重力加速(su)度

    重力加速(su)度：物體(ti)在(zai)地(di)球(qiu)表(biao)面(mian)由(you)於(yu)重力作用所產生的(de)加(jia)速(su)度。

    gn=0m/s2（GB/T 2422-995 電工電(dian)子產品環境(jing)試驗 術語）

    3、掃(sao)描方式分(fen)幾(ji)種

    線(xian)性掃(sao)描：是線(xian)性的(de)，即單位時(shi)間(jian)掃過(guo)多(duo)少(shao)赫茲，單(dan)位是Hz/s或(huo)Hz/min，這種(zhong)掃(sao)描用於(yu)細

    找共振(zhen)頻(pin)率的試驗。

    對(dui)數(shu)掃(sao)描：頻(pin)率變(bian)化按對(dui)數(shu)變(bian)化，掃描率可(ke)以是(shi)oct/min ，對(dui)數(shu)掃(sao)描的意(yi)思(si)是(shi)相同的(de)時(shi)間(jian)掃

    過(guo)的頻(pin)率倍頻(pin)程(cheng)數(shu)是(shi)相同的(de)。

    4、什(shen)麽是(shi)掃描速(su)度

    掃描速(su)度(sweep speed):指從(cong)zui低(di)頻(pin)率掃描到(dao)zui高(gao)頻(pin)率的速(su)度。有以(yi)下幾(ji)種(zhong)：

    ）oct/min:多(duo)少(shao)倍頻(pin)程(cheng)每分(fen)鐘。

    例:oct/min,5Hz到(dao)0Hz需分(fen)鐘,0Hz到(dao)20Hz需分(fen)鐘。

    2）min/sweep:多(duo)少(shao)分(fen)鐘每次(ci)掃(sao)頻(pin)。

    例:5-500Hz,掃描速(su)度:分(fen)鐘/sweep,表(biao)示(shi)從(cong)5Hz到(dao)500Hz需分(fen)鐘。

    3）Hz/s:多(duo)少(shao)Hz每秒(miao)。

    例:5-0Hz,掃描速(su)度:Hz/s,表(biao)示(shi)5Hz到(dao)6Hz需秒(miao),6Hz到(dao)7Hz需秒(miao)。

    5、振(zhen)動(dong)試驗中有幾(ji)個方向

    除有(you)關(guan)規(gui)範(fan)另有(you)規(gui)定外，應在(zai)產品的(de)三(san)個(ge)互(hu)相垂(chui)直方向上(shang)進行(xing)振(zhen)動(dong)試驗。

    壹般(ban)定義(yi)產品長(chang)邊(bian)為X軸(zhou)向，短邊(bian)為Y軸(zhou)向，產品正常(chang)擺(bai)放上(shang)下為Z軸(zhou)向。

    6、什(shen)麽是(shi)交(jiao)越頻(pin)率

    交(jiao)越頻(pin)率：在(zai)振(zhen)動(dong)試驗中由(you)壹種振(zhen)動(dong)特(te)性(xing)量變(bian)為另壹種振(zhen)動(dong)特(te)性(xing)量的頻(pin)率。

    如(ru)交(jiao)越頻(pin)率由(you)等位移——頻(pin)率關(guan)系(xi)變(bian)為等加速(su)度——頻(pin)率關(guan)系(xi)時(shi)的頻(pin)率。

    7、為什(shen)麽要共振(zhen)搜(sou)尋

    壹般(ban)待測物上(shang)有各(ge)種零(ling)組件，而(er)每(mei)壹個不同的(de)零(ling)組件，皆(jie)有(you)其(qi)不同的(de)共振(zhen)頻(pin)率，

    同時(shi)會因形(xing)狀、重量(liang)、固(gu)定方式不(bu)同而(er)在(zai)振(zhen)動(dong)發(fa)生(sheng)時(shi)產生不(bu)同的(de)共振(zhen)頻(pin)率及(ji)放(fang)大倍率，

    因此(ci)需(xu)對(dui)特(te)定零(ling)組件搜(sou)尋它的共振(zhen)特(te)性(xing)，再(zai)依其(qi)特(te)性(xing)執(zhi)行(xing)共振(zhen)點(dian)的加振(zhen)試驗。

    8、什(shen)麽是(shi)共振(zhen)頻(pin)率

    共振(zhen)頻(pin)率：產品出(chu)現共振(zhen)的(de)頻(pin)率。

    9、什(shen)麽是(shi)定頻(pin)振(zhen)動(dong)

    定頻(pin)振(zhen)動(dong)是(shi)指(zhi)在(zai)規定的固(gu)定頻(pin)率點(dian)上(shang)進行(xing)各(ge)種振(zhen)動(dong)參(can)數(shu)不(bu)同量(liang)級(ji)的試驗。

    10、定頻(pin)振(zhen)動(dong)主要用於(yu)哪些方面(mian)

    )耐(nai)共振(zhen)頻(pin)率振(zhen)動(dong)：在(zai)產品振(zhen)動(dong)頻(pin)響檢查時(shi)發(fa)現的(de)明(ming)顯(xian)共振(zhen)頻(pin)率點(dian)上(shang)，施(shi)加規定振(zhen)動(dong)

    參(can)數(shu)振(zhen)幅(fu)的(de)振(zhen)動(dong)，以(yi)考(kao)核(he)產品耐(nai)共振(zhen)振(zhen)動(dong)的(de)能力。

    2)耐(nai)預(yu)定頻(pin)率振(zhen)動(dong)：在(zai)已(yi)知的產品使(shi)用環境(jing)條件振(zhen)動(dong)頻(pin)率時(shi)，可(ke)采用耐(nai)預(yu)定頻(pin)率的振(zhen)

    動(dong)試驗。其(qi)目的還(hai)是(shi)為考(kao)核(he)產品在(zai)預定危險頻(pin)率下承受(shou)振(zhen)動(dong)的(de)能力。

    2、什(shen)麽是(shi)臨(lin)界頻(pin)率

    臨(lin)界頻(pin)率：由(you)於(yu)振(zhen)動(dong)導(dao)致(zhi)產品的(de)性(xing)能異(yi)常(chang)或(huo)劣(lie)化，或產生機(ji)械(xie)共振(zhen)和其(qi)它響應效(xiao)應如(ru)

    震(zhen)顫(chan)的頻(pin)率。