半(ban)導體(ti)可(ke)靠(kao)性(xing)檢測(ce)設備有哪些(xie)(冷(leng)熱沖擊試驗(yan)箱JW-5003D)

巨(ju)為儀(yi)器(qi)股(gu)份（維斯富奇(qi)品牌）成(cheng)立(li)於2007年，是(shi)國內(nei)壹家致(zhi)力(li)於環(huan)境與(yu)可(ke)靠(kao)性(xing)環(huan)境設(she)備的(de)制(zhi)造(zao)商(shang)。當年(nian)憑借普(pu)通(tong)鹽霧箱及高(gao)低(di)溫循(xun)箱(xiang)起(qi)步(bu)的(de)巨(ju)為儀(yi)器(qi)股(gu)份（維斯富奇(qi)品牌），經過(guo)十(shi)六年的(de)發(fa)展，其產(chan)品已(yi)經(jing)拓展到了高(gao)低(di)溫箱(xiang)，快(kuai)速溫變試驗(yan)箱、高(gao)低(di)溫交(jiao)變溫熱試驗(yan)箱、恒溫恒濕試驗(yan)箱、冷(leng)熱沖擊箱(xiang)、CASS鹽霧腐蝕(shi)試驗(yan)箱、復合鹽霧綜合試驗(yan)箱、高(gao)溫老(lao)化(hua)箱、新(xin)物聯網(wang)溫循(xun)箱(xiang)、加速壽命試驗(yan)機、帶(dai)電老(lao)化試驗(yan)箱、潔(jie)凈(jing)烘箱、無塵烘箱、充(chong)氮(dan)烘箱等種類多(duo)樣(yang)。

半(ban)導體(ti)環(huan)境可(ke)靠(kao)性(xing)檢測(ce)

半(ban)導體(ti)（ semiconductor），指(zhi)常溫下導電(dian)性(xing)能介於導體（conductor）與(yu)絕(jue)緣體（insulator）之間(jian)的(de)材料。半導體在(zai)車(che)機、電視機、手(shou)機(ji)以及測(ce)溫上有(you)著廣泛的(de)應用。如(ru)二(er)極管就(jiu)是(shi)采用半導(dao)體制(zhi)作(zuo)的(de)器(qi)件。半(ban)導體是(shi)指壹種導(dao)電性(xing)可(ke)受控(kong)制(zhi)，範(fan)圍可(ke)從(cong)絕(jue)緣體至(zhi)導體(ti)之間(jian)的(de)材料。無論從(cong)科(ke)技或是(shi)經濟發(fa)展的(de)角(jiao)度(du)來(lai)看(kan)，半(ban)導體的(de)重(zhong)要(yao)性都(dou)是(shi)非常巨(ju)大的(de)。今日大部(bu)分的(de)電子產(chan)品，如(ru)計算機是(shi)數字錄(lu)音機當中(zhong)的(de)核心單元都(dou)和半導(dao)體有(you)著極為密(mi)切(qie)的(de)關連(lian)。常見的(de)半導體材料有(you)矽(gui)、鍺、砷(shen)化鎵(jia)等，而矽(gui)更是(shi)各(ge)種(zhong)半(ban)導(dao)體(ti)材料中，在(zai)商(shang)業應用上有(you)影響力(li)的(de)壹種。

■ 溫度(du)濕(shi)度(du)偏置(zhi)循(xun)環(huan)壽命測(ce)試
■ 穩(wen)態濕(shi)熱偏置(zhi)壽命試驗(yan)
■ 高(gao)加速蒸煮(zhu)試驗(yan)
■ 高(gao)溫存(cun)儲壽命試驗(yan)
■ 溫度(du)循(xun)環(huan)試驗(yan)
■ 加電(dian)溫度(du)循(xun)環(huan)試驗(yan)
■ 高(gao)低(di)溫溫度(du)沖擊試驗(yan)
■ 鹽霧腐蝕(shi)試驗(yan)
■ 溫度(du)偏置(zhi)工(gong)作壽命試驗(yan)
■ 高(gao)加速壽命試驗(yan)
■ 高(gao)加速無偏置(zhi)壽命試驗(yan)
■ 振(zhen)動(dong)和掃(sao)頻(pin)試驗(yan)

半(ban)導體(ti)相(xiang)關廠商(shang)：中(zhong)科曙光，華天，長電(dian)科(ke)技，南京55所，先(xian)進(jin)半(ban)導體，富樂德(de)半導(dao)體(ti)，江(jiang)豐(feng)電子(zi)，微(wei)盟科(ke)技，睿(rui)升(sheng)科(ke)技等等