JW-5003D半導(dao)體器(qi)件可(ke)靠(kao)性測(ce)試所需(xu)要(yao)用到(dao)的環(huan)境試驗設備(bei)

半導(dao)體器(qi)件可(ke)靠(kao)性測(ce)試所需(xu)要(yao)用到(dao)的環(huan)境試驗設備(bei)JW-5003D

三(san)槽式(shi)冷(leng)熱沖擊(ji)箱(xiang)JW-5000系(xi)列

用於測(ce)試材(cai)料結構或(huo)復(fu)合(he)材(cai)料,在瞬(shun)間經(jing)溫度以及極低(di)溫的連(lian)續環境下(xia)所能忍受(shou)的程(cheng)度(du)，最短時間內檢測(ce)試樣因熱脹(zhang)冷(leng)縮(suo)所引(yin)起的化學(xue)變(bian)化或(huo)物(wu)理(li)傷害。

產(chan)品(pin)亮(liang)點

●高(gao)低(di)溫循環可達1000次，不(bu)結霜，溫度恢復時間小於5分鐘，轉換時間(jian)小於10秒。

●三(san)箱(xiang)式(shi)結構，樣品不(bu)需(xu)移(yi)動，易於測(ce)試線(xian)纜(lan)連(lian)接(jie)，可(ke)自(zi)由(you)切(qie)換(huan)兩(liang)溫和三(san)溫模式(shi)。

●試件放置在固(gu)定(ding)的測(ce)試室內,不會(hui)隨(sui)提(ti)籃移(yi)動,相(xiang)對靜(jing)止(zhi)，無任(ren)何(he)機(ji)械(xie)沖擊(ji)。

●采用彩(cai)色(se)觸摸(mo)屏(ping)控制(zhi),界面(mian)友(you)好,具有(you)參(can)數(shu)記錄(lu)功能，Error信息實(shi)時(shi)顯示,輕(qing)松(song)排除(chu)故(gu)障。

●流(liu)體力學仿(fang)真精(jing)密(mi)計算，變(bian)頻(pin)技(ji)術與產品工藝制(zhi)造(zao)技(ji)術有(you)效(xiao)降(jiang)低(di)能耗(hao)。

技(ji)術參(can)數(shu) Technical parameter

測(ce)試空間容積(ji)： 50-2250升(sheng)

高(gao)溫室溫度範(fan)圍(wei)： +60至+200℃

溫度恢復時間： ≤5min

試驗室溫度範(fan)圍(wei)： -72至+180℃

低(di)溫室溫度： -80至-10℃

噪(zao) 音(yin)： 56-63 dB(A)