GMW14872-2021 測試(shi)標(biao)準

GMW14872-2021標(biao)準介紹

簡介

GMW14872-2021發布於(yu)2021年3月(yue)，本標(biao)準描(miao)述(shu)了壹(yi)個(ge)用於(yu)評(ping)估部件(jian)和組件的(de)加速實驗室(shi)循(xun)環腐蝕(shi)試(shi)驗方(fang)法(fa)。該試(shi)驗程(cheng)序提(ti)供(gong)了壹(yi)個(ge)循環(huan)條(tiao)件 (鹽溶(rong)液、各種(zhong)溫度(du)、濕度和外圍環(huan)境)的(de)組合以(yi)加速金屬(shu)腐(fu)蝕，本程(cheng)序對(dui)於(yu)評(ping)估多種(zhong)金屬(shu)腐蝕機理(li)都(dou)有(you)效，例(li)如(ru)常(chang)規，電流(liu)，裂(lie)縫等(deng)等(deng)都(dou)有(you)效，試(shi)驗暴(bao)露或條(tiao)件可以(yi)分別(bie)調(tiao)整以(yi)滿足(zu)期(qi)望(wang)的(de)腐(fu)蝕(shi)暴(bao)露(lu) 。標(biao)準中(zhong)的(de)“2021"指的(de)是(shi)本標(biao)準的(de)發(fa)布(bu)時(shi)間(jian)為(wei)2021年。

1範圍

註(zhu)意(yi)：此(ci)標(biao)準不能取(qu)代(dai)適用的(de)法(fa)律法(fa)規

註(zhu)意(yi)：如(ru)果此(ci)標(biao)準的(de)英(ying)文版(ban)本與所(suo)在國的(de)語種(zhong)版(ban)本出(chu)現(xian)沖(chong)突(tu)，那(na)麽優先(xian)以(yi)英文版(ban)本為(wei)準(zhun)

1 1目(mu)的(de)

此(ci)流(liu)程描(miao)述(shu)了通過(guo)壹(yi)種(zhong)加速實驗室(shi)耐腐(fu)蝕(shi)性(xing)測試(shi)方(fang)法(fa)來(lai)評(ping)估總(zong)成件(jian)和單件。測試(shi)流程(cheng)提(ti)供(gong)了壹(yi)個(ge)綜合(he)性(xing)循環(huan)條(tiao)件(鹽溶(rong)液、各種(zhong)溫度(du)、濕度以(yi)及周(zhou)圍環(huan)境)來(lai)加速金屬(shu)的(de)腐(fu)蝕(shi)。該(gai)流(liu)程能夠(gou)有(you)效評(ping)估各類(lei)腐蝕機理(li)，如(ru)壹(yi)般(ban)性(xing)的(de)、電(dian)鍍(du)、縫隙腐蝕等(deng)。測試(shi)曝露，條(tiao)件可以(yi)分別(bie)進行(xing)定制以(yi)達到(dao)任何所(suo)期望(wang)的(de)腐(fu)蝕(shi)曝露等(deng)級。

此(ci)外，該測試(shi)中還(hai)包(bao)含了由(you)溫度(du)、機械循(xun)環、電(dian)循(xun)環以(yi)及其(qi)它(ta)應(ying)力(li)所(suo)引(yin)發的(de)協同(tong)效(xiao)應(ying)。壹(yi)些(xie)典(dian)型(xing)的(de)改(gai)變(bian)內(nei)容(rong)請(qing)參看偏差部(bu)分(此(ci)標(biao)準的(de)第25和27 頁)

1 2前(qian)言

該測試(shi)方(fang)法(fa)包(bao)括(kuo)1%(近似值(zhi))的(de)復(fu)合(he)鹽霧在高(gao)溫(wen)、高(gao)溫(wen)以(yi)及高(gao)溫(wen)烘(hong)幹下的(de)共同(tong)應(ying)用。壹(yi)個(ge)測試(shi)循環(huan)相當於24小時

壹(yi)個(ge)循環(huan)是由(you)圖A1所(suo)描(miao)述(shu)的(de)日(ri)常(chang)事(shi)件或(huo)測試(shi)輸入所(suo)構成。壹(yi)個(ge)循環(huan)通常需(xu)要1天(tian)的(de)時(shi)間(jian)來(lai)完成。測試(shi)曝露是(shi)根據(ju)目(mu)標(biao)試(shi)片質量損失(shi)量而(er)描(miao)述(shu)的(de)。必(bi)須(xu)滿足(zu)所(suo)要求的(de)質量損失(shi)量的(de)循(xun)環(huan)數日標(biao)範圍詳(xiang)見(jian)表(biao)A1中的(de)方(fang)法(fa)1/2和方(fang)法(fa)3試(shi)片的(de)質量損失(shi)值是(shi)用來(lai)驗證該測試(shi)所(suo)生成腐(fu)蝕的(de)準(zhun)確量。測試(shi)必(bi)須(xu)按照(zhao)滿足(zu)試(shi)片質量損失(shi)要求的(de)循(xun)環(huan)數來(lai)執行(xing)，以(yi)確保處於規(gui)定(ding)範圍內(nei)

1 3適用性(xing)

該循環(huan)腐蝕測試(shi)(參看圖A1)是用於(yu)所(suo)有(you)環境區(qu)域(參看GMW15272中的(de)方(fang)法(fa)和適用區(qu)域)的(de)驗(yan)證試(shi)驗(外觀及/或功能性(xing)/壹(yi)般(ban)性(xing)持續(xu)時(shi)間(jian))、開(kai)發(fa)試(shi)驗以(yi)及質量控(kong)制(zhi)試(shi)外觀腐(fu)蝕(shi)的(de)基(ji)本曝露等(deng)級分(fen)為(wei)0、A、B和C。曝露D和 E則用於(yu)功能評(ping)估(參看表(biao)A1 和表(biao)2 )。所(suo)有(you)腐蝕(shi)機理(li)在(zai)測試(shi)中的(de)加速率也(ye)各(ge)不相同(tong)。完成該(gai)測試(shi)可能不會確保零(ling)件(jian)通過(guo)功能性(xing)的(de)要求。因而(er)必(bi)須(xu)進行(xing)壹(yi)個(ge)全面失(shi)效模式(shi)分析(xi)以(yi)確保所(suo)有(you)失(shi)效模式(shi)都被考慮(lv)在內(nei)且(qie)能夠(gou)滿足(zu)預(yu)期(qi)壽(shou)命

曝露0：所(suo)有(you)領(ling)域(0年/交付(fu)【ID】)

曝露A：車(che)身(shen)底(di)板零(ling)部(bu)件

曝露B：引(yin)擎室(shi)零(ling)部(bu)件

曝露C：外部件(jian)，面板(ban)、次表(biao)面及內(nei)部(bu)件

曝露D：所(suo)有(you)零(ling)部(bu)件(功能性(xing))

註(zhu)意(yi)：對(dui)於(yu)曝露等(deng)級為(wei)0(0年(nian)/ID)的(de)零(ling)部(bu)件，根據(ju)表(biao)A1中方(fang)法(fa)1/2規定(ding)和表(biao)A2方(fang)法(fa)3 規定(ding)的(de)與有(you)光車輛(liang)區(qu)域相連(lian)接(jie)和安裝(zhuang)位(wei)置的(de)曝露2個(ge)循環(huan)來(lai)進行(xing)評(ping)估

註(zhu)意(yi)： 改(gai)變(bian)內(nei)容(rong)請(qing)參考此(ci)文件中(zhong)的(de)偏差部(bu)分(弟(di)25到(dao)27頁)

2參考標(biao)準

註(zhu)意(yi)：除(chu)非(fei)另(ling)有(you)規定(ding)，否(fou)則(ze)只(zhi)能適(shi)用*新(xin)版(ban)且經(jing)批(pi)準的(de)標(biao)準

2.1 外部標(biao)準(略(lve))
2.2 GM標(biao)準(略(lve))
2 3其(qi)它(ta)參考標(biao)準：SAE 1008-1010

3資源
3. 1設施

實驗室(shi)(能控(kong)制(zhi)環(huan)境條(tiao)件)

3.1.1校(xiao)準(zhun)

實驗設(she)、設(she)備應處於良(liang)好(hao)的(de)工(gong)作(zuo)狀(zhuang)態(tai)並附有(you)有(you)效的(de)校(xiao)準(zhun)標(biao)簽。

3.1.2替(ti)代(dai)選擇(ze)

也有(you)可能用到(dao)替(ti)代(dai)試(shi)驗設(she)、設備。然(ran)而(er)，該標(biao)準中(zhong)規(gui)定(ding)的(de)所(suo)有(you)測量變(bian)量都(dou)應(ying)基(ji)於其(qi)物(wu)理(li)定(ding)義(yi)來(lai)正確確定。

3 .2設備

3.2.1環境階段

環境階段的(de)儀(yi)器(qi)應(ying)能夠(gou)位(wei)置以(yi)下環境條(tiao)件：

. 溫度：25±3℃

. 濕度：45±10%相(xiang)對濕度

.持續(xu)時(shi)間(jian)：每(mei)循(xun)環(huan)約(yue)為(wei)8小(xiao)時(shi)

註(zhu)意(yi)：對(dui)於(yu)周(zhou)末和假期內(nei)，可(ke)以(yi)允許打開試(shi)驗箱(xiang)，讓(rang)箱(xiang)內(nei)環(huan)境與外部可(ke)控(kong)環(huan)境相混(hun)合(he)

3. 2.2潮(chao)濕階段

潮(chao)濕階段的(de)儀(yi)器(qi)能夠(gou)在以(yi)下環境條(tiao)件中蔓(man)延(1小(xiao)時(shi)內(nei))並維持(約(yue)7小(xiao)時)：

.溫度：49±2℃

.濕度：約(yue)100%相(xiang)對濕度

.持續(xu)時(shi)間(jian)：每(mei)循(xun)環(huan)約(yue)為(wei)8小(xiao)時(shi)

儀(yi)器(qi)應(ying)由(you)壹(yi)個(ge)鹽霧/境試(shi)驗箱(xiang)、符合ASTM D1193類(lei)型Ⅳ合適(shi)的(de)水(shui)供(gong)給系統(tong)、試(shi)驗箱(xiang)加熱(re)以(yi)及必(bi)要的(de)控(kong)制(zhi)方(fang)法(fa)

3.2.2.1水(shui)霧

儀(yi)器(qi)應(ying)包(bao)括(kuo)能夠(gou)供(gong)給適當(dang)的(de)經(jing)調(tiao)解(jie)溫濕度的(de)壓(ya)縮(suo)空氣(qi)以(yi)及壹(yi)個(ge)或多個氣(qi)霧生成噴(pen)嘴。氣(qi)霧生成的(de)噴(pen)嘴應(ying)進行(xing)定向或(huo)阻擋(dang)從(cong)而(er)把對試(shi)樣表(biao)面上(shang)的(de)直接(jie)沖(chong)擊降(jiang)為(wei)低(di)在(zai)曝露區(qu)內(nei)應(ying)至少放(fang)置兩(liang)個幹凈(jing)的(de)氣(qi)霧收(shou)集器以(yi)便試(shi)樣表(biao)面的(de)液體(ti)不會濺落且(qie)能夠(gou)被*收(shou)集。收(shou)集器應置於試(shi)樣附近，壹(yi)個(ge)放在(zai)離噴(pen)嘴近的(de)地(di)方(fang)，另(ling)壹(yi)個(ge)放在(zai)離噴(pen)嘴遠(yuan)的(de)地(di)方(fang)。 收(shou)集時間(jian)至(zhi)少持續(xu)16小(xiao)時。鹽霧收(shou)集率如有(you)必(bi)要，可以(yi)在該範圍內(nei)進行(xing)調(tiao)節(jie)以(yi)符合重量損失(shi)目(mu)標(biao)率

適合用來(lai)收(shou)集的(de)裝(zhuang)置還有(you)包(bao)含壹(yi)個(ge)莖部通過(guo)塞子(zi)插入到(dao)量筒內(nei)的(de)玻(bo)璃(li)或塑(su)料漏鬥。直徑(jing)為(wei) 10厘(li)米的(de)漏(lou)鬥的(de)面積(ji)約(yue)為(wei)80平(ping)方(fang)厘(li)米。當(dang)濕潤(run)階段完成後(hou)，試(shi)樣無法(fa)立即(ji)讀值(zhi)的(de)區(qu)域，可以(yi)將封(feng)閉的(de)塑(su)料(liao)泡沫(mo)球與收(shou)集漏鬥壹(yi)同(tong)使(shi)使(shi)用(例(li)如(ru)泡沫(mo)球在(zai)漏(lou)鬥口處)從(cong)而(er)允許濕度的(de)收(shou)集且大限度的(de)減(jian)少蒸發(fa)

3.2.2.2濕潤(run)底(di)部

儀(yi)器(qi)的(de)試(shi)驗箱(xiang)應(ying)根據(ju)ISO 6270-2的(de)規(gui)定(ding)來(lai)設計(ji)。在濕潤(run)底(di)部生(sheng)成濕度循(xun)環的(de)過(guo)程中(zhong)，測試(shi)儀(yi)器(qi)必(bi)須(xu)能夠(gou)確保在試(shi)樣表(biao)面上(shang)能夠(gou)看到(dao)液體(ti)水(shui)滴依(yi)驗(yan)證適當(dang)的(de)濕度

3.2.2.3蒸汽(qi)生(sheng)成濕度所(suo)使用的(de)水(shui)資源(yuan)中(zhong)應不含阻蝕劑(ji)。在蒸汽(qi)生(sheng)成濕度循(xun)環中(zhong)，測試(shi)儀(yi)器(qi)必(bi)須(xu)能夠(gou)確保在試(shi)樣表(biao)面上(shang)能夠(gou)看到(dao)液體(ti)水(shui)滴以(yi)驗證適當(dang)的(de)濕度

3.2.3烘幹階段

烘幹階段所(suo)使用的(de)儀(yi)器(qi)應(ying)在(zai)以(yi)下環境條(tiao)件中蔓(man)延(3小(xiao)時(shi)內(nei))並保持(約(yue)5小(xiao)時)：

.溫度：60+2℃

. 濕度：≤30%相(xiang)對濕度

.持續(xu)時(shi)間(jian)：每(mei)循(xun)環(huan)約(yue)8小(xiao)時

儀(yi)器(qi)還(hai)應(ying)具(ju)備允足(zu)的(de)空氣(qi)循環(huan)以(yi)防止溫(wen)度結(jie)層(ceng)並使得(de)試(shi)樣獲得充(chong)分的(de)烘(hong)幹(gan)

3 2 4鹽霧應用

溶(rong)液應被作為(wei)氣(qi)霧進行(xing)噴射並足(zu)以(yi)沖(chong)洗(xi)掉任(ren)何因先(xian)前(qian)噴(pen)射所(suo)殘留的(de)累(lei)積(ji)鹽分。試(shi)樣及樣片應(ying)允分(fen)浸(jin)濕，滴濕。應采(cai)用適(shi)當(dang)的(de)應(ying)用技(ji)術，包(bao)括(kuo)使用塑(su)料(liao)瓶或無油調(tiao)節(jie)空氣(qi)驅動的(de)虹(hong)吸管(guan)噴(pen)射試(shi)樣及試(shi)片

註(zhu)意(yi)：鹽應用的(de)沖(chong)擊不得除去腐(fu)蝕(shi)或(huo)破壞(huai)試(shi)樣的(de)塗(tu)層(ceng)/塗(tu)漆(qi)系統(tong)

3 2 5耐腐(fu)蝕(shi)試(shi)片及固(gu)定硬件(jian)

試(shi)片是(shi)用來(lai)監控(kong)測試(shi)環境中所(suo)產生的(de)裸(luo)鋼(gang)表(biao)面上(shang)平均(jun)總(zong)體(ti)腐蝕情況。試(shi)片是(shi)由寬25.4'長 50.8*厚(hou)3.18毫米符合SAE1008-1010的(de)碳(tan)鋼、符合SAEJ2329 CR1E的(de)冷(leng)軋(zha)鋼(gang)所(suo)構成，無塗覆(fu)、無後續(xu)塗層(ceng)處理(li)且(qie)刻(ke)字(zi)母標(biao)識(參考圖A2)

試(shi)片應(ying)由如(ru)圖A3和A4所(suo)示(shi)的(de)帶緊(jin)固(gu)件的(de)鋁(lv)制(zhi)或(huo)非(fei)金屬試(shi)片架(jia)托(tuo)舉。螺栓、螺母(mu)以(yi)及墊片應(ying)由非(fei)黑(hei)塑(su)料材質是(shi)尼(ni)龍(long)制成。圖A4反映出(chu)壹(yi)個(ge)完整試(shi)片架(jia)的(de)配(pei)置。不同(tong)測試(shi)時間(jian)的(de)推(tui)薦(jian)試(shi)片數量如(ru)表(biao)所(suo)示(shi)

3 3測試(shi)車輛(liang)/測試(shi)件

試(shi)樣(設計(ji)、表(biao)面及準備)應由涉(she)及人員(yuan)(設(she)計(ji)工程師(shi)，材料工(gong)程(cheng)師(shi)，耐腐(fu)蝕(shi)工程(cheng)師(shi))共同(tong)商定(ding)且(qie))應盡可(ke)能模擬(ni)實際生(sheng)產材料和條(tiao)件

所(suo)選擇(ze)的(de)的(de)試(shi)樣數量應(ying)足(zu)夠(gou)確保測試(shi)結果統計(ji)有(you)效，另(ling)有(you)規定(ding)除(chu)外。樣件準備過(guo)程中(zhong)做(zuo)出(chu)的(de)任(ren)何非常(chang)規觀(guan)察(cha)應予(yu)以(yi)記(ji)錄(lu)並作為(wei)檢(jian)測報告的(de)壹(yi)個(ge)部分(fen)進行(xing)提(ti)交

如合適(shi)，已(yi)知性(xing)能的(de)試(shi)樣及/或控(kong)制(zhi)面板(ban)應同(tong)時(shi)檢(jian)測。這些控(kong)制(zhi)能夠(gou)允詐測試(shi)的(de)重(zhong)復(fu)進行(xing)過(guo)程中(zhong)的(de)測試(shi)條(tiao)件為(wei)標(biao)準化(hua)(補(bu)償(chang)所(suo)要求的(de)質量損失(shi)控(kong)制(zhi))且(qie)還(hai)可(ke)以(yi)允許不同(tong)重(zhong)復(fu)測試(shi)所(suo)得的(de)試(shi)驗結(jie)果進行(xing)對比

當可以(yi)獲得實際，有(you)代表(biao)性(xing)的(de)生(sheng)產樣件且已(yi)知嵌入方(fang)向時(shi)，那(na)麽試(shi)驗樣應進行(xing)調(tiao)整以(yi)模擬(ni)這些條(tiao)件

當使川(chuan)測試(shi)面板(ban)及/或未(wei)知(zhi)嵌入方(fang)向時(shi)，原(yuan)則上(shang)樣件應調(tiao)整至而(er)朝上(shang)並與垂(chui)直方(fang)向呈(cheng)20±5° 的(de)角(jiao)度(du)。