導(dao)致(zhi)巨(ju)為(wei)高(gao)低(di)溫試驗箱均勻度(du)偏差(cha)的原(yuan)因(yin)

任(ren)何(he)壹(yi)臺環境試驗設備(bei)，包(bao)括(kuo)巨(ju)為(wei)高(gao)低(di)溫試驗設備(bei)所(suo)提供(gong)的環(huan)境(jing)條(tiao)件(jian)是(shi)可觀(guan)測的和(he)可控制的，這不(bu)僅(jin)是(shi)為(wei)了(le)使環(huan)境參(can)數(shu)限(xian)制在壹(yi)定(ding)的容(rong)差(cha)範圍之(zhi)內，保證(zheng)試驗條(tiao)件(jian)的再(zai)現(xian)性(xing)和(he)重復(fu)性(xing)的要(yao)求，而(er)且從(cong)產(chan)品試驗的安(an)全(quan)角度(du)來(lai)說(shuo)，溫(wen)度(du)均勻度(du)也(ye)是(shi)巨(ju)為(wei)高(gao)低(di)溫試驗箱的重要(yao)技術參數之(zhi)壹，目(mu)前(qian)各種(zhong)試驗箱試驗規範中(zhong)大體(ti)要求參(can)數(shu)測(ce)試的精(jing)度(du)不(bu)應低於(yu)試驗條(tiao)件(jian)允(yun)許的誤(wu)差的三(san)分之(zhi)壹。我們在使(shi)用(yong)時(shi)，可能(neng)會(hui)碰到溫(wen)度(du)不(bu)均勻的情(qing)況(kuang)，那麽是(shi)什麽(me)原因(yin)可能(neng)會(hui)導致(zhi)這類(lei)問(wen)題的出(chu)現(xian)呢(ne)？

   1、整體(ti)結構(gou)
   設備(bei)的結構(gou)在很(hen)大程(cheng)度(du)上影響工作(zuo)中(zhong)間溫(wen)度(du)均勻。不(bu)對(dui)稱(cheng)結構(gou)，對(dui)溫度(du)均勻度(du)會(hui)有(you)不(bu)利(li)影響。大門(men)在前(qian)，空(kong)調(tiao)室(shi)在箱後(hou)部(bu)，上(shang)下(xia)循環風，這種(zhong)結構(gou)左右(you)對(dui)稱(cheng)性好，可(ke)較易達到溫(wen)度(du)均勻。

   2、箱體(ti)密封性(xing)
   箱體(ti)的密封性(xing)不(bu)好，比(bi)如(ru)箱門(men)漏(lou)氣，從(cong)而(er)影響設備(bei)工(gong)作室的溫(wen)度(du)均勻。

   3、試品體(ti)積(ji)
   在工(gong)作(zuo)室(shi)內放置(zhi)試樣(yang)時，如(ru)果(guo)試樣(yang)體(ti)積(ji)過大，或(huo)放(fang)置(zhi)的方(fang)式或(huo)位置(zhi)不(bu)恰當，使空氣(qi)對(dui)流受阻(zu)，也(ye)會(hui)導致(zhi)較大的溫(wen)度(du)偏差(cha)。