步入(ru)式(shi)恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕試驗(yan)室(shi)用途(tu)及(ji)執行(xing)與(yu)滿(man)足標準(zhun)

壹、步入(ru)式(shi)恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕試驗(yan)室(shi)用途(tu)

    適用於(yu)電工(gong)、電(dian)子、儀(yi)器儀(yi)表(biao)及(ji)其它產(chan)品、零部(bu)件(jian)及(ji)材(cai)料(liao)在高(gao)低(di)溫交變(bian)濕熱環境(jing)下貯(zhu)存(cun)、運輸(shu)、使(shi)用時(shi)的(de)適應性(xing)試(shi)驗(yan)；

    是(shi)各類(lei)電子(zi)、電工、電器、塑(su)膠(jiao)等原(yuan)材(cai)料(liao)和器件(jian)進(jin)行(xing)耐(nai)寒(han)、耐熱、耐濕、耐幹性試驗(yan)及(ji)品管工(gong)程(cheng)的(de)可靠性測(ce)試(shi)設備(bei)；

    可編程恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕試驗(yan)箱特(te)別適用於(yu)光(guang)纖(xian)、LCD、晶(jing)體(ti)、電感、PCB、電池(chi)、電腦(nao)、手機等產(chan)品的(de)耐高(gao)溫、耐(nai)低(di)溫、耐潮濕循環試(shi)驗(yan)。

二、步入(ru)式(shi)恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕試驗(yan)室(shi)執行(xing)與(yu)滿(man)足標準(zhun)

GB/T10589-1989低(di)溫試驗(yan)箱技術(shu)條(tiao)件(jian)；

GB/T10586-1989濕熱試驗(yan)箱技術(shu)條(tiao)件(jian)；

GB/T10592-1989高(gao)低(di)溫試驗(yan)箱技術(shu)條(tiao)件(jian)；

GB2423.1-89低(di)溫試驗(yan)Aa，Ab；

GB2423.3-93（IEC68-2-3）恒(heng)定(ding)濕熱試驗(yan)Ca；

MIL-STD810D方法502.2；

GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程(cheng)序(xu)3；

GJB150.9-8濕熱試驗(yan)；

GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫(wen)濕度(du)組(zu)合(he)循環試(shi)驗(yan)。