紫外(wai)線(xian)耐氣(qi)候(hou)試(shi)驗(yan)箱(xiang)可以(yi)模擬哪些(xie)環境?

　紫外(wai)線(xian)耐氣(qi)候(hou)試(shi)驗(yan)箱(xiang)可以(yi)模擬由陽(yang)光(guang)造成之危(wei)害(hai),試(shi)驗(yan)箱(xiang)利用(yong)螢光(guang)紫外(wai)線(xian)燈(deng)模擬(ni)陽(yang)光(guang)照(zhao)射(she)之效(xiao)果，被測(ce)試(shi)試(shi)材(cai)料放(fang)置(zhi)於(yu)壹(yi)定(ding)溫(wen)度(du)下的(de)光(guang)照(zhao)中進行(xing)測(ce)試(shi)。紫外(wai)線(xian)老(lao)化試(shi)驗(yan)機(ji)用(yong)數天(tian)或數周的(de)時(shi)間(jian)即可重現(xian)戶外(wai)數月(yue)或數年出(chu)現(xian)的(de)危(wei)害。危害類(lei)型(xing)包(bao)括(kuo)：褪色(se)、變(bian)色(se)、失光(guang)、粉(fen)光(guang)、開(kai)裂(lie)、剝(bo)落、渾濁(zhuo)、氣泡(pao)、脆(cui)變(bian)、強度(du)降(jiang)低、衰(shuai)煺和氧(yang)化等(deng)。

　　紫外(wai)線(xian)耐氣(qi)候(hou)試(shi)驗(yan)箱(xiang)輻照(zhao)度(du)控(kong)制(zhi)

　　紫外(wai)線(xian)耐氣(qi)候(hou)試(shi)驗(yan)箱(xiang)備有日光(guang)眼(yan)光(guang)強控(kong)制(zhi)器(qi)，利用(yong)日光(guang)眼(yan)的(de)反(fan)饋循(xun)環系統(tong)，可以(yi)連續(xu)、自動(dong)地(di)控制且(qie)地(di)保持輻照(zhao)度(du)，日光(guang)眼(yan)靠調(tiao)整(zheng)燈(deng)的(de)功率(lv)來(lai)自動(dong)補(bu)償因燈(deng)管(guan)老(lao)化和(he)其(qi)他(ta)因素(su)造成的(de)光(guang)強變(bian)化。在(zai)僅僅幾(ji)天或幾(ji)周內，能模(mo)擬在(zai)室外(wai)幾(ji)個(ge)月甚(shen)至(zhi)幾(ji)年所(suo)造成的(de)損(sun)害。

紫外(wai)線(xian)耐氣(qi)候(hou)試(shi)驗(yan)箱(xiang)潮濕(shi)模(mo)擬

　　潮濕(shi)模(mo)擬試(shi)驗(yan)室(shi)底(di)部的(de)水(shui)被用(yong)來(lai)加熱產生蒸汽，測(ce)試(shi)樣品(pin)實際(ji)上形(xing)成測(ce)試(shi)室(shi)的(de)側壁，樣品(pin)的(de)另(ling)壹面(mian)暴(bao)露(lu)在(zai)室內周圍的(de)空(kong)氣中(zhong)。室內相(xiang)對較(jiao)冷的(de)空(kong)氣使得測(ce)試(shi)樣品(pin)的(de)表(biao)面比測(ce)試(shi)室(shi)內熱蒸汽的(de)溫(wen)度(du)低好幾(ji)度(du)，溫(wen)度(du)差產生冷(leng)凝(ning)循(xun)環現(xian)象(xiang)，在(zai)樣品(pin)表面(mian)液(ye)態形(xing)式的(de)水(shui)慢慢地(di)凝(ning)結(jie)。另(ling)外，冷(leng)凝過(guo)程(cheng)是在(zai)壹較(jiao)高(gao)溫度(du)(壹(yi)般(ban)為50℃)下進行的(de)，這(zhe)大(da)大(da)加(jia)速(su)了潮濕(shi)侵(qin)蝕。用(yong)紫外(wai)線(xian)老(lao)化試(shi)驗(yan)箱(xiang)的(de)長(chang)時(shi)間(jian)的(de)熱凝(ning)結(jie)循環過(guo)程(cheng)來模擬(ni)戶(hu)外的(de)潮濕(shi)侵(qin)蝕比(bi)其他(ta)壹(yi)些(xie)方法(fa)，如(ru)濺(jian)水(shui)、浸(jin)水(shui)或高(gao)濕度(du)都(dou)更有效(xiao)。

　　紫外(wai)線(xian)耐氣(qi)候(hou)試(shi)驗(yan)箱(xiang)8AUV應用：

　　8AUV使用zui廣(guang)泛的(de)耐候(hou)測(ce)試(shi)機(ji),在(zai)範(fan)圍內已有數以(yi)千(qian)計的(de)Q8投入使用。

　　8AUV已成為實驗(yan)室(shi)加(jia)速(su)耐候(hou)試(shi)驗(yan)的(de)世界(jie)標(biao)準：符(fu)合(he)ISO、ASTM、DIN、JIS、SAE、BS、ANSI、GM、U.S.GOVT等(deng)標(biao)準和(he)國(guo)標(biao)。

　　快速(su)、真實(shi)地(di)再現(xian)陽(yang)光(guang)對材(cai)料的(de)損(sun)害：只(zhi)需(xu)要(yao)幾(ji)天或幾(ji)周時(shi)間(jian)，8AUV以(yi)再現(xian)戶外(wai)需要(yao)數月(yue)或數年才(cai)能產生的(de)破(po)壞：包(bao)括(kuo)褪色(se)、變(bian)色(se)、亮(liang)度(du)下降、粉(fen)化、龜(gui)裂(lie)、變(bian)模糊(hu)、脆(cui)化、強(qiang)度(du)下降及(ji)氧化。

8AUV可靠的(de)老(lao)化測(ce)試(shi)數據(ju)可對產品的(de)耐候(hou)(抗老(lao)化)性(xing)做(zuo)出(chu)準(準)確(que)的(de)相(xiang)關，並有助(zhu)於(yu)材(cai)料及(ji)配方的(de)篩(shai)選、優化。