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          高低(di)溫沖擊(ji)試(shi)驗(yan)箱(xiang)的試驗(yan)步(bu)驟(zhou)

          更新(xin)時間:2015-02-05      點擊(ji)次(ci)數:2518

          高(gao)低(di)溫沖擊(ji)試(shi)驗(yan)箱(xiang)用於(yu)電(dian)子(zi)電器零(ling)組(zu)件、自(zi)動化零(ling)部件、通(tong)訊(xun)組(zu)件、汽車配件、金(jin)屬、化學(xue)材(cai)料(liao)、塑膠(jiao)等行(xing)業,國防(fang)工業、航天(tian)、兵(bing)工業、BGA、PCB基(ji)扳、電子(zi)芯(xin)片IC、半導(dao)體(ti)陶(tao)磁(ci)及高(gao)分子(zi)材(cai)料(liao)之物(wu)理(li)牲(sheng)變(bian)化,測試(shi)其(qi)材(cai)料(liao)對高(gao)、低(di)溫的反復(fu)抵拉(la)力(li)及產(chan)品(pin)於熱(re)脹冷縮(suo)產(chan)出的化學(xue)變(bian)化或(huo)物(wu)理傷(shang)害(hai),可(ke)確(que)認產(chan)品(pin)的品(pin)質(zhi),從(cong)精密的(de)IC到重機(ji)械的(de)組(zu)件,都(dou)會用到,是(shi)各(ge)領(ling)域對產(chan)品(pin)測試(shi)的(de)*的(de)壹(yi)項(xiang)測試(shi)箱(xiang),兩(liang)箱(xiang)式箱體(ti)分為高溫(wen)箱(xiang)和(he)低(di)溫箱;三(san)箱式箱體(ti)分為高溫(wen)箱(xiang),低(di)溫箱,測試(shi)箱(xiang)三(san)部分,采(cai)*之斷(duan)熱(re)結(jie)構及(ji)蓄熱(re)蓄冷效(xiao)果,試(shi)驗(yan)時(shi)待測物(wu)*靜(jing)止(zhi)。

            高(gao)低(di)溫沖擊(ji)試(shi)驗(yan)箱(xiang)的試驗(yan)步(bu)驟(zhou)分為五部(bu)走(zou):預處理(li)、初始檢測、試(shi)驗(yan)、恢復、zui後(hou)檢測。其(qi)中試驗(yan)的(de)流(liu)程(cheng)如(ru)下:

            1)試(shi)驗(yan)樣品(pin)應(ying)按標準要(yao)求(qiu)放(fang)置(zhi)在(zai)試驗(yan)箱(xiang)內並將(jiang)試驗(yan)箱(xiang)內溫度升到點,保(bao)持壹(yi)定(ding)的(de)時(shi)間至試驗(yan)樣品(pin)達到溫度穩定,以時間長都(dou)為準。

            2)高(gao)溫階段結(jie)束後(hou),在5min內將(jiang)試驗(yan)樣品(pin)轉換到已調(tiao)節(jie)到-55℃的低(di)溫試驗(yan)內,保(bao)持1h或(huo)者直(zhi)至試驗(yan)樣品(pin)達到溫度穩定,以時間長都(dou)為準。

            3)低(di)溫階段結(jie)束後(hou),在5min內將(jiang)試驗(yan)樣品(pin)轉換到已調(tiao)節(jie)到70℃的高(gao)溫(wen)試(shi)驗(yan)箱(xiang)內,保(bao)持1h或(huo)者直(zhi)至試驗(yan)樣品(pin)達到溫度穩定,以時間長都(dou)為準。

            4)重復(fu)上述實驗(yan)方法,以完成(cheng)三個(ge)循(xun)環(huan)周(zhou)期。根(gen)據(ju)樣件大(da)小與(yu)空間大(da)小,時(shi)間可能(neng)會略有誤差。

            zui後(hou),我們需要(yao)提(ti)醒(xing)您在(zai)使用時(shi)要(yao)註(zhu)意(yi):高(gao)溫燙(tang)傷,高(gao)低(di)溫沖擊(ji)試(shi)驗(yan)箱(xiang)在做高(gao)溫試驗(yan)時(shi)箱內溫度很(hen)高。試(shi)驗(yan)過(guo)程(cheng)中或測試(shi)剛(gang)結(jie)束時(shi),如(ru)需打(da)開箱(xiang),開門(men)要(yao)特(te)別(bie)小(xiao)心,切記,順著(zhe)門(men)開啟(qi)的(de)方向(xiang)行(xing)走(zou),以免燙(tang)傷;低(di)溫凍(dong)傷(shang),在做低(di)溫試驗(yan)時(shi)箱內溫度很(hen)低(di)。試驗(yan)過(guo)程(cheng)中或試驗(yan)剛(gang)結(jie)束時(shi),如(ru)需打(da)開箱(xiang)門(men)要(yao)特(te)別(bie)小(xiao)心,以免凍(dong)傷(shang)。


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