巨為(wei)可程(cheng)式(shi)高(gao)低(di)溫試(shi)驗(yan)箱(xiang)之國標規定的(de)試驗(yan)準(zhun)則(ze)

巨為(wei)可程(cheng)式(shi)高(gao)低(di)溫試(shi)驗(yan)箱(xiang)之國標規定的(de)試驗(yan)準(zhun)則(ze)

國標GB/T2423.4-2008適(shi)用於(yu)確(que)定(ding)元(yuan)件(jian)、設(she)備(bei)或(huo)其他(ta)產品(pin)在(zai)高(gao)濕(shi)度與溫度循環(huan)變(bian)化(hua)組合且(qie)通(tong)常(chang)會(hui)在(zai)試驗樣品(pin)表面(mian)產生(sheng)凝露的條(tiao)件(jian)下使(shi)用、運(yun)輸(shu)和(he)貯存的適(shi)應性(xing)。如果(guo)本試(shi)驗用於(yu)檢(jian)驗(yan)帶包裝樣(yang)品(pin)在(zai)運輸(shu)和(he)貯存過程(cheng)中的(de)性能(neng)時(shi)，應帶包裝壹(yi)起(qi)進(jin)行(xing)試驗(yan)。

　　對(dui)於(yu)小(xiao)的(de)，質(zhi)量輕(qing)的樣(yang)品(pin)使用本(ben)試(shi)驗，在(zai)樣品(pin)表面(mian)產生(sheng)凝露可能(neng)比較困難;用戶應考(kao)慮(lv)使用其他(ta)替(ti)代試驗，如GB/T2423.34-2005。

　　國標GB/T2423.4-2008規範(fan)性(xing)引(yin)用文(wen)件(jian)如下：

　　GB/T2421-1999 電(dian)工(gong)電子(zi)產品(pin)環(huan)境(jing)試(shi)驗 第(di)1部分(fen)：總則(ze)

　　GB/T2422-1995 電工(gong)電(dian)子(zi)產品(pin)環(huan)境(jing)試(shi)驗 術語

　　GB/T2423.34-2005 電工電子(zi)產品(pin)環(huan)境(jing)試(shi)驗 第(di)2部分(fen)：試驗方法(fa) 試驗Z/AD：溫度/濕(shi)度組合循環(huan)試(shi)驗(yan)

　　GB/T2423.6-2006 電(dian)工(gong)電子(zi)產品(pin)環(huan)境(jing)試(shi)驗 溫度/濕(shi)度試驗箱(xiang)性能(neng)確認(ren)。