聯(lian)系電(dian)話 18217777117
當(dang)前位(wei)置:首(shou)頁 > 產(chan)品中心(xin) > 太(tai)陽(yang)能組件檢(jian)測(ce)設(she)備(bei)系列(lie)
相(xiang)關文章
ARTICLESJW-1100系列(lie)型光(guang)衰試驗箱(xiang)采(cai)用能摸(mo)擬全(quan)陽(yang)光光(guang)譜(pu)的(de)氙弧燈來(lai)再(zai)現不(bu)同環(huan)境下存在的(de)破壞性光(guang)波,可以為科研(yan)產(chan)品開(kai)發和質量控(kong)制(zhi)提供相(xiang)應的(de)環(huan)境模擬和加(jia)速(su)試(shi)驗。中國(guo)臺灣技術(shu)太(tai)陽(yang)能電(dian)池片衰減(jian)箱(xiang) 預(yu)衰減(jian)試驗箱(xiang) 光(guang)衰箱(xiang) 光(guang)衰試驗箱(xiang)可(ke)用於(yu)新材(cai)料(liao)的(de)選擇(ze)、改進現有(you)材(cai)料(liao)或(huo)評估(gu)材(cai)料(liao)組成(cheng)變化(hua)後(hou)耐(nai)用性的(de)變化試(shi)驗(yan),可(ke)以很(hen)好(hao)的(de)模擬在(zai)不(bu)同(tong)環(huan)境條(tiao)件下,材(cai)料(liao)暴露在(zai)陽(yang)光下所產生的(de)變化。
JW-1100系列(lie)型光(guang)衰試驗箱(xiang)采(cai)用能摸(mo)擬全(quan)陽(yang)光光(guang)譜(pu)的(de)氙弧燈來(lai)再(zai)現不(bu)同環(huan)境下存在的(de)破壞性光(guang)波,可以為科研(yan)產(chan)品開(kai)發和質量控(kong)制(zhi)提供相(xiang)應的(de)環(huan)境模擬和加(jia)速(su)試(shi)驗。中國(guo)臺灣技術(shu)太(tai)陽(yang)能電(dian)池片衰減(jian)箱(xiang) 預(yu)衰減(jian)試驗箱(xiang) 光(guang)衰箱(xiang) 光(guang)衰試驗箱(xiang)可(ke)用於(yu)新材(cai)料(liao)的(de)選擇(ze)、改進現有(you)材(cai)料(liao)或(huo)評估(gu)材(cai)料(liao)組成(cheng)變化(hua)後(hou)耐(nai)用性的(de)變化試(shi)驗(yan),可(ke)以很(hen)好(hao)的(de)模擬在(zai)不(bu)同(tong)環(huan)境條(tiao)件下,材(cai)料(liao)暴露在(zai)陽(yang)光下所產生的(de)變化。
JW-1100系列(lie)型光(guang)衰試驗箱(xiang)采(cai)用能摸(mo)擬全(quan)陽(yang)光光(guang)譜(pu)的(de)氙弧燈來(lai)再(zai)現不(bu)同環(huan)境下存在的(de)破壞性光(guang)波,可以為科研(yan)產(chan)品開(kai)發和質量控(kong)制(zhi)提供相(xiang)應的(de)環(huan)境模擬和加(jia)速(su)試(shi)驗。中國(guo)臺灣技術(shu)太(tai)陽(yang)能電(dian)池片衰減(jian)箱(xiang) 預(yu)衰減(jian)試驗箱(xiang) 光(guang)衰箱(xiang) 光(guang)衰試驗箱(xiang)可(ke)用於(yu)新材(cai)料(liao)的(de)選擇(ze)、改進現有(you)材(cai)料(liao)或(huo)評估(gu)材(cai)料(liao)組成(cheng)變化(hua)後(hou)耐(nai)用性的(de)變化試(shi)驗(yan),可(ke)以很(hen)好(hao)的(de)模擬在(zai)不(bu)同(tong)環(huan)境條(tiao)件下,材(cai)料(liao)暴露在(zai)陽(yang)光下所產生的(de)變化。
JW-1100系列(lie)型光(guang)衰試驗箱(xiang)采(cai)用能摸(mo)擬全(quan)陽(yang)光光(guang)譜(pu)的(de)氙弧燈來(lai)再(zai)現不(bu)同環(huan)境下存在的(de)破壞性光(guang)波,可以為科研(yan)產(chan)品開(kai)發和質量控(kong)制(zhi)提供相(xiang)應的(de)環(huan)境模擬和加(jia)速(su)試(shi)驗。中國(guo)臺灣技術(shu)太(tai)陽(yang)能電(dian)池片衰減(jian)箱(xiang) 預(yu)衰減(jian)試驗箱(xiang) 光(guang)衰箱(xiang) 光(guang)衰試驗箱(xiang)可(ke)用於(yu)新材(cai)料(liao)的(de)選擇(ze)、改進現有(you)材(cai)料(liao)或(huo)評估(gu)材(cai)料(liao)組成(cheng)變化(hua)後(hou)耐(nai)用性的(de)變化試(shi)驗(yan),可(ke)以很(hen)好(hao)的(de)模擬在(zai)不(bu)同(tong)環(huan)境條(tiao)件下,材(cai)料(liao)暴露在(zai)陽(yang)光下所產生的(de)變化。
電(dian)話
微信(xin)掃(sao)壹掃(sao)