兩(liang)箱式(shi)高(gao)低(di)溫(wen)沖擊(ji)試驗(yan)箱(xiang)

兩(liang)箱(xiang)式(shi)高(gao)低(di)溫(wen)沖擊(ji)試驗(yan)箱(xiang)JW-4002D

壹、兩箱(xiang)式(shi)高(gao)低(di)溫(wen)沖擊(ji)試驗(yan)箱(xiang)

1.適用(yong)範圍：

本設備適用(yong)於各(ge)類(lei)電工(gong)電子(zi)產(chan)品(pin)及其(qi)他產(chan)品、零(ling)部件(jian)和(he)材(cai)料(liao)進(jin)行高低(di)溫(wen)恒(heng)定(ding)和漸(jian)變、濕(shi)熱試驗等(deng)環境(jing)模(mo)擬(ni)可靠性試(shi)驗(yan)。

除(chu)此之外的(de)用(yong)途可能(neng)會(hui)導致人(ren)員受傷(shang)及機(ji)設(she)備損壞(huai)

2.樣(yang)品(pin)限(xian)制

易(yi)燃(ran)、爆(bao)炸(zha)、易揮發性物(wu)質試樣(yang)的(de)試驗及(ji)儲(chu)存

腐蝕(shi)性物(wu)質試樣(yang)的(de)試驗及(ji)儲(chu)存生物(wu)試樣的(de)試驗或儲(chu)存

強電(dian)磁發射(she)源試(shi)樣的(de)試驗及(ji)儲(chu)存

二(er)、兩箱式(shi)高(gao)低(di)溫(wen)沖擊(ji)試驗(yan)箱(xiang)容(rong)積和尺寸(cun)

1.有(you)效(xiao)容(rong)積：336L

2.提籃尺寸(cun)：W800mm×H700mm×D600mm ，提藍(lan)容(rong)積：336L

3.測(ce)試(shi)箱(xiang)外箱尺寸(cun)：約W(寬(kuan))1800mm×H(高)2400mm×D(深)2700mm（以實物為準）

三(san)、設備(bei)性能(neng)指(zhi)標

1.設備(bei)條(tiao)件(jian)：環(huan)境(jing)溫度為+25℃

2.溫度範圍(wei)：高溫(wen)槽溫(wen)度範圍(wei)：+60℃至(zhi) +180℃  低(di)溫(wen)槽溫(wen)度範圍(wei)：-10℃至(zhi) -70℃

3.溫度波動度：≤±0.5℃ 

4.溫度沖擊(ji)範圍(wei)：-50℃至(zhi)+150℃（高溫(wen)：+60℃至(zhi)+150℃；低(di)溫(wen)：-10至(zhi)-60℃）

5.溫度偏(pian)差：≤±2℃

6.溫度均勻(yun)度：≤2℃

7.溫度恢復時間：≤3-5分(fen)鐘(zhong)；（試樣(yang)重量在2KG以(yi)內）

8.轉換(huan)時(shi)間：≤5S（即(ji)吊(diao)籃移動時(shi)間(jian)）

9.高溫(wen)升溫(wen)時間(jian)：常(chang)溫(wen)升至(zhi)180℃≤30分(fen)鐘(zhong)，全程(cheng)平(ping)均(jun)非線性

10.低(di)溫(wen)降溫(wen)時(shi)間：常(chang)溫(wen)降至(zhi)-60℃≤30分(fen)鐘(zhong)，全程(cheng)平(ping)均(jun)非線性

11.升降溫(wen)過沖：≤±2℃

12.設備(bei)噪音：≤65dB（A聲(sheng)級(ji), 恒(heng)定(ding)時,設備(bei)正前方1米處）