巨(ju)為儀(yi)器高低(di)溫(wen)沖(chong)擊(ji)試(shi)驗箱(xiang)的(de)試(shi)驗步(bu)驟(zhou)

    高低(di)溫(wen)沖(chong)擊(ji)試(shi)驗箱(xiang)用(yong)於(yu)電子(zi)電器零組件(jian)、自動(dong)化(hua)零部件(jian)、通訊(xun)組件(jian)、汽(qi)車(che)配件(jian)、金(jin)屬(shu)、化(hua)學材料(liao)、塑膠等(deng)行(xing)業，國防工(gong)業、航天、兵(bing)工(gong)業、BGA、PCB基(ji)扳、電子(zi)芯(xin)片(pian)IC、半(ban)導(dao)體陶磁(ci)及(ji)高分(fen)子(zi)材(cai)料(liao)之(zhi)物(wu)理(li)牲變化,測(ce)試(shi)其(qi)材(cai)料對高、低(di)溫(wen)的(de)反復抵拉力(li)及(ji)產品(pin)於(yu)熱脹冷縮產出的(de)化學(xue)變化或(huo)物(wu)理(li)傷(shang)害，可(ke)確(que)認產品的(de)品質(zhi),從精(jing)密的(de)IC到重(zhong)機械(xie)的(de)組件(jian)，都(dou)會(hui)用到(dao)，是(shi)各領域(yu)對產(chan)品(pin)測試(shi)的(de)*的(de)壹項測試(shi)箱(xiang)，兩(liang)箱式(shi)箱體分(fen)為(wei)高溫(wen)箱和低(di)溫(wen)箱;三(san)箱式(shi)箱體分(fen)為(wei)高溫(wen)箱,低(di)溫(wen)箱,測(ce)試(shi)箱(xiang)三(san)部分,采(cai)*之(zhi)斷(duan)熱結(jie)構(gou)及(ji)蓄(xu)熱蓄(xu)冷效果(guo)，試(shi)驗時(shi)待(dai)測(ce)物(wu)*靜止(zhi)。

　　高低(di)溫(wen)沖(chong)擊(ji)試(shi)驗箱(xiang)的(de)試(shi)驗步(bu)驟(zhou)分為(wei)五(wu)部(bu)走(zou)：預處理(li)、初(chu)始(shi)檢測(ce)、試(shi)驗、恢(hui)復(fu)、後檢測(ce)。其(qi)中(zhong)試(shi)驗的(de)流(liu)程如(ru)下(xia)：

　　1、試(shi)驗樣(yang)品應(ying)按標(biao)準(zhun)要求放(fang)置在試(shi)驗箱(xiang)內(nei)並將(jiang)試(shi)驗箱(xiang)內(nei)溫(wen)度升(sheng)到(dao)點，保持壹定(ding)的(de)時(shi)間至試(shi)驗樣(yang)品達(da)到溫(wen)度穩(wen)定(ding)，以時(shi)間長(chang)都(dou)為(wei)準(zhun)。

　　2、高溫(wen)階段(duan)結(jie)束後(hou)，在5min內(nei)將(jiang)試(shi)驗樣(yang)品轉換到已(yi)調(tiao)節(jie)到-55℃的(de)低(di)溫(wen)試(shi)驗內(nei)，保持1h或者直(zhi)至試(shi)驗樣(yang)品達(da)到溫(wen)度穩(wen)定(ding)，以時(shi)間長(chang)都(dou)為(wei)準(zhun)。

　　3、低(di)溫(wen)階段(duan)結(jie)束後(hou)，在5min內(nei)將(jiang)試(shi)驗樣(yang)品轉換到已(yi)調(tiao)節(jie)到70℃的(de)高溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)內(nei)，保持1h或者直(zhi)至試(shi)驗樣(yang)品達(da)到溫(wen)度穩(wen)定(ding)，以時(shi)間長(chang)都(dou)為(wei)準(zhun)。

　　4、重(zhong)復上(shang)述實驗方(fang)法(fa),以完(wan)成三(san)個(ge)循(xun)環(huan)周(zhou)期。根(gen)據樣(yang)件大小(xiao)與空間(jian)大小(xiao)，時(shi)間可(ke)能(neng)會(hui)略有(you)誤(wu)差(cha)。

　　後，我們需要提(ti)醒(xing)您在使(shi)用(yong)時(shi)要註(zhu)意(yi)：高溫(wen)燙傷(shang)，高低(di)溫(wen)沖(chong)擊(ji)試(shi)驗箱(xiang)在做(zuo)高溫(wen)試(shi)驗時(shi)箱內(nei)溫(wen)度很高。試(shi)驗過程中(zhong)或(huo)測試(shi)剛(gang)結(jie)束時(shi)，如(ru)需打開(kai)箱(xiang)，開(kai)門要特別小(xiao)心，切(qie)記(ji)，順(shun)著(zhe)門開(kai)啟(qi)的(de)方向行(xing)走(zou)，以(yi)免燙傷(shang);低(di)溫(wen)凍(dong)傷(shang)，在做(zuo)低(di)溫(wen)試(shi)驗時(shi)箱內(nei)溫(wen)度很低(di)。試(shi)驗過程中(zhong)或(huo)試(shi)驗剛(gang)結(jie)束時(shi)，如(ru)需打開(kai)箱(xiang)門要特別小(xiao)心，以免凍(dong)傷(shang)。