三箱(xiang)式冷熱(re)沖(chong)擊試(shi)驗箱(xiang)維(wei)修(xiu)

三槽(cao)式冷熱(re)沖(chong)擊試(shi)驗箱(xiang)JW-TS-80三(san)箱式冷熱(re)沖(chong)擊試(shi)驗箱(xiang)&兩(liang)槽(cao)式高(gao)低(di)溫(wen)沖(chong)擊試(shi)驗箱(xiang)。該產(chan)品適(shi)用(yong)於(yu)電子(zi)元氣(qi)件(jian)的(de)安全性(xing)能測(ce)試提供(gong)可靠(kao)性(xing)試驗(yan)、產(chan)品篩選試(shi)驗(yan)等(deng)，同(tong)時(shi)通(tong)過此(ci)裝備試驗(yan)，可(ke)提高產(chan)品的(de)可靠(kao)性(xing)和進行產(chan)品的(de)質量(liang)控(kong)制(zhi)。高低(di)溫(wen)沖(chong)擊試(shi)驗箱(xiang)是(shi)航空(kong)、汽車(che)、家電(dian)、科研等(deng)領域*的(de)測(ce)試設備。

機械(xie)鈑(ban)金結(jie)構　　全部(bu)功能(neng)采用(yong)計算(suan)機(ji)控(kong)制，系(xi)自主(zhu)開(kai)發的軟(ruan)件(jian)，有良好的操(cao)作(zuo)界(jie)面(mian)，使(shi)用(yong)戶的(de)操(cao)作(zuo)和監測(ce)都(dou)更加簡(jian)單(dan)和直觀(guan)，保(bao)持功能可以(yi)使妳正(zheng)在運行的程(cheng)序(xu)保(bao)持在目前(qian)的(de)狀(zhuang)態(tai)下，可以(yi)臨時(shi)更改(gai)此(ci)程(cheng)序(xu)段的數值(zhi)，可以(yi)在屏幕上設(she)置時(shi)間(jian)和參(can)數，使制冷、加熱(re)、提藍傳(chuan)送(song)切換，按(an)設定值(zhi)自動進行。

　冷箱、熱(re)箱(xiang)獨立(li)控(kong)制(zhi)，箱(xiang)門(men)互相(xiang)獨立(li)，擴(kuo)大(da)試(shi)驗箱的使(shi)用(yong)範(fan)圍(wei)（壹箱(xiang)三用(yong)）。

　　產(chan)品保(bao)溫(wen)效(xiao)果(guo)可(ke)以(yi)得到充(chong)分保(bao)證。

　　試驗箱門(men)與(yu)循環風機，提藍傳(chuan)動(dong)等(deng)互鎖(suo)，保(bao)護(hu)操(cao)作(zuo)者(zhe)的安(an)全，壹旦(dan)打開箱門(men)，循(xun)環風機和提藍傳(chuan)動(dong)的(de)電(dian)源會(hui)被(bei)自動(dong)切斷(duan)。

　　在箱頂(ding)有標(biao)準引線孔(kong)管，方便(bian)用(yong)戶向箱(xiang)內(nei)引入傳(chuan)感(gan)器(qi)線，檢(jian)測(ce)電纜(lan)等(deng)類型引線。

控(kong)制(zhi)系(xi)統(tong)

　　低(di)溫(wen)區(qu)、高溫(wen)區(qu)轉(zhuan)換時(shi)間(jian)小於(yu)等(deng)於(yu)15秒(miao)。

　　溫(wen)度(du)恢復時(shi)間(jian)小於(yu)等(deng)於(yu)5分鐘。

符合標(biao)準

　　GB/T2423.1.2-2001 GJB150.5 GB10592-89

參(can)數列表(biao)

選型

溫(wen)度(du)運行控制(zhi)系(xi)統(tong)

標(biao)準配(pei)置

　　多層(ceng)加熱(re)觸(chu)霜附(fu)照(zhao)明(ming)玻璃(li)視窗1套(tao)、試品架(jia)2個、測試(shi)引線孔(kong)（25、50mm）1個(ge)。

安全保(bao)護(hu)

　　漏(lou)電、短路、超(chao)溫(wen)、電(dian)機(ji)過熱(re)、壓(ya)縮(suo)機超(chao)壓(ya)、過載(zai)、過電流保(bao)護(hu)。

溫(wen)度(du)轉(zhuan)換時(shi)間(jian)

　　從(cong)低(di)溫(wen)區(qu)到高(gao)溫(wen)區(qu)或 <, /SPAN>從(cong)高(gao)溫(wen)區(qu)到低(di)溫(wen)區(qu) ≤15S。

溫(wen)度(du)回復時(shi)間(jian)

　　≤5min（與(yu)溫(wen)度(du)恢復條(tiao)件(jian)有關(guan)，既(ji)冷卻水溫(wen)、暴露(lu)溫(wen)差(cha)、恒溫(wen)時(shi)間(jian)、樣(yang)品重(zhong)量(liang)有關(guan)。

溫(wen)度(du)沖擊方法(fa)

　　垂(chui)直兩(liang)箱法(fa) / 垂(chui)直三(san)箱法(fa)。

三(san)槽(cao)式冷熱(re)沖(chong)擊試(shi)驗箱(xiang)JW-TS-80三(san)箱式冷熱(re)沖(chong)擊試(shi)驗箱(xiang)&兩(liang)槽(cao)式高(gao)低(di)溫(wen)沖(chong)擊試(shi)驗箱(xiang)。該產(chan)品適(shi)用(yong)於(yu)電子(zi)元氣(qi)件(jian)的(de)安全性(xing)能測(ce)試提供(gong)可靠(kao)性(xing)試驗(yan)、產(chan)品篩選試(shi)驗(yan)等(deng)，同(tong)時(shi)通(tong)過此(ci)裝備試驗(yan)，可(ke)提高產(chan)品的(de)可靠(kao)性(xing)和進行產(chan)品的(de)質量(liang)控(kong)制(zhi)。高低(di)溫(wen)沖(chong)擊試(shi)驗箱(xiang)是(shi)航空(kong)、汽車(che)、家電(dian)、科研等(deng)領域*的(de)測(ce)試設備。