三(san)箱式冷(leng)熱沖擊(ji)試(shi)驗(yan)箱檢測(ce)

三(san)槽式(shi)冷熱沖擊(ji)試(shi)驗(yan)箱JW-TS-80三(san)箱式冷(leng)熱沖擊(ji)試(shi)驗(yan)箱&兩槽式(shi)高低(di)溫沖(chong)擊(ji)試(shi)驗(yan)箱。該產(chan)品(pin)適用(yong)於(yu)電子元(yuan)氣(qi)件(jian)的安(an)全(quan)性能(neng)測(ce)試(shi)提供可靠性試(shi)驗(yan)、產(chan)品(pin)篩(shai)選(xuan)試(shi)驗(yan)等(deng)，同(tong)時(shi)通(tong)過(guo)此(ci)裝(zhuang)備試(shi)驗(yan)，可(ke)提高產(chan)品(pin)的可(ke)靠性和(he)進(jin)行(xing)產(chan)品(pin)的質量(liang)控(kong)制。高(gao)低(di)溫沖(chong)擊(ji)試(shi)驗(yan)箱是航空、汽(qi)車、家(jia)電、科研等領域(yu)*的(de)測(ce)試(shi)設備。

機(ji)械(xie)鈑(ban)金結(jie)構(gou)　　全(quan)部功(gong)能(neng)采用(yong)計算機(ji)控(kong)制，系(xi)自主開(kai)發的軟件(jian)，有良(liang)好(hao)的(de)操(cao)作(zuo)界(jie)面(mian)，使(shi)用(yong)戶(hu)的操(cao)作(zuo)和(he)監(jian)測(ce)都(dou)更(geng)加簡(jian)單(dan)和(he)直(zhi)觀(guan)，保(bao)持功(gong)能(neng)可(ke)以使妳(ni)正在(zai)運行的(de)程序(xu)保(bao)持在(zai)目(mu)前的狀態(tai)下，可(ke)以(yi)臨時更(geng)改(gai)此程序(xu)段(duan)的(de)數(shu)值(zhi)，可以在(zai)屏幕上設(she)置(zhi)時間(jian)和(he)參(can)數(shu)，使(shi)制冷、加熱、提藍傳(chuan)送切換，按設定(ding)值(zhi)自(zi)動(dong)進(jin)行(xing)。

　冷(leng)箱、熱箱獨立(li)控(kong)制，箱門互相獨立(li)，擴大試(shi)驗(yan)箱的使(shi)用(yong)範圍（壹箱三(san)用(yong)）。

　　產(chan)品(pin)保(bao)溫效(xiao)果可以(yi)得到充分(fen)保(bao)證。

　　試(shi)驗(yan)箱門與(yu)循環(huan)風(feng)機(ji)，提藍傳(chuan)動(dong)等互鎖，保(bao)護操(cao)作(zuo)者(zhe)的(de)安全(quan)，壹旦(dan)打(da)開(kai)箱門，循(xun)環風(feng)機(ji)和(he)提藍傳(chuan)動(dong)的電源(yuan)會(hui)被(bei)自(zi)動(dong)切斷(duan)。

　　在(zai)箱頂有(you)標準(zhun)引線(xian)孔(kong)管，方(fang)便(bian)用(yong)戶(hu)向(xiang)箱內引入(ru)傳(chuan)感器線(xian)，檢(jian)測電纜等(deng)類型引線(xian)。

控(kong)制系(xi)統

　　低(di)溫區(qu)、高(gao)溫區(qu)轉(zhuan)換(huan)時間小於(yu)等於(yu)15秒。

　　溫度恢(hui)復(fu)時(shi)間(jian)小於(yu)等於(yu)5分(fen)鐘。

符(fu)合標準(zhun)

　　GB/T2423.1.2-2001 GJB150.5 GB10592-89

參(can)數(shu)列(lie)表

選(xuan)型

溫(wen)度運行控(kong)制系(xi)統

標準(zhun)配(pei)置(zhi)

　　多層加熱觸霜(shuang)附照(zhao)明玻(bo)璃視窗(chuang)1套(tao)、試(shi)品架(jia)2個(ge)、測試(shi)引線(xian)孔(kong)（25、50mm）1個(ge)。

安全(quan)保(bao)護

　　漏(lou)電、短路(lu)、超溫、電機(ji)過(guo)熱、壓縮(suo)機(ji)超壓、過(guo)載、過(guo)電流保(bao)護。

溫度轉(zhuan)換時(shi)間

　　從(cong)低(di)溫區(qu)到(dao)高溫(wen)區(qu)或(huo) <, /SPAN>從(cong)高溫(wen)區到(dao)低(di)溫區(qu) ≤15S。

溫(wen)度回復(fu)時(shi)間(jian)

　　≤5min（與(yu)溫度恢(hui)復(fu)條(tiao)件(jian)有關(guan)，既(ji)冷(leng)卻水溫、暴(bao)露(lu)溫差(cha)、恒溫(wen)時間、樣品(pin)重(zhong)量(liang)有(you)關(guan)。

溫度沖(chong)擊方(fang)法

　　垂直(zhi)兩(liang)箱法 / 垂直(zhi)三(san)箱法。

三(san)槽式(shi)冷熱沖擊(ji)試(shi)驗(yan)箱JW-TS-80三(san)箱式冷(leng)熱沖擊(ji)試(shi)驗(yan)箱&兩槽式(shi)高低(di)溫沖(chong)擊(ji)試(shi)驗(yan)箱。該產(chan)品(pin)適用(yong)於(yu)電子元(yuan)氣(qi)件(jian)的安(an)全(quan)性能(neng)測(ce)試(shi)提供可靠性試(shi)驗(yan)、產(chan)品(pin)篩(shai)選(xuan)試(shi)驗(yan)等(deng)，同(tong)時(shi)通(tong)過(guo)此(ci)裝(zhuang)備試(shi)驗(yan)，可(ke)提高產(chan)品(pin)的可(ke)靠性和(he)進(jin)行(xing)產(chan)品(pin)的質量(liang)控(kong)制。高(gao)低(di)溫沖(chong)擊(ji)試(shi)驗(yan)箱是航空、汽(qi)車、家(jia)電、科研等領域(yu)*的(de)測(ce)試(shi)設備。