三(san)箱(xiang)式(shi)冷(leng)熱沖擊試(shi)驗箱(xiang)搬(ban)遷

三(san)槽(cao)式(shi)冷(leng)熱沖擊試(shi)驗箱(xiang)JW-TS-80三(san)箱(xiang)式(shi)冷(leng)熱沖擊試(shi)驗箱(xiang)&兩槽(cao)式(shi)高(gao)低溫沖(chong)擊試(shi)驗箱(xiang)。該產(chan)品適(shi)用(yong)於電子(zi)元氣件的安(an)全性能(neng)測試(shi)提供可靠性試(shi)驗、產(chan)品篩(shai)選(xuan)試(shi)驗等(deng)，同時通(tong)過此(ci)裝(zhuang)備試(shi)驗，可提高(gao)產(chan)品的可靠性和進行產(chan)品的質量控制(zhi)。高(gao)低溫沖(chong)擊試(shi)驗箱(xiang)是(shi)航(hang)空(kong)、汽(qi)車、家電、科(ke)研等(deng)領域*的測試(shi)設備。

機械(xie)鈑(ban)金結(jie)構　　全部功(gong)能(neng)采用(yong)計(ji)算機控制(zhi)，系(xi)自(zi)主(zhu)開發(fa)的軟件，有良(liang)好的操(cao)作(zuo)界(jie)面，使(shi)用(yong)戶的操(cao)作(zuo)和監(jian)測都更加簡單(dan)和直(zhi)觀，保(bao)持(chi)功(gong)能(neng)可以(yi)使妳(ni)正(zheng)在運(yun)行的程(cheng)序(xu)保(bao)持(chi)在(zai)目前的狀態(tai)下(xia)，可以(yi)臨(lin)時(shi)更(geng)改(gai)此(ci)程(cheng)序(xu)段的數值，可以(yi)在屏幕上(shang)設置(zhi)時(shi)間(jian)和參(can)數，使(shi)制(zhi)冷(leng)、加熱、提藍傳送切(qie)換(huan)，按(an)設(she)定(ding)值(zhi)自(zi)動(dong)進行。

　冷箱(xiang)、熱箱(xiang)獨(du)立(li)控(kong)制(zhi)，箱(xiang)門(men)互(hu)相(xiang)獨立(li)，擴(kuo)大試(shi)驗箱(xiang)的使用(yong)範(fan)圍(wei)（壹(yi)箱(xiang)三(san)用(yong)）。

　　產(chan)品保(bao)溫(wen)效(xiao)果(guo)可以(yi)得到充分(fen)保(bao)證(zheng)。

　　試(shi)驗箱(xiang)門(men)與(yu)循(xun)環(huan)風(feng)機，提藍傳動(dong)等(deng)互(hu)鎖(suo)，保(bao)護(hu)操(cao)作(zuo)者(zhe)的安(an)全，壹(yi)旦打開箱(xiang)門(men)，循環風(feng)機和提藍傳動(dong)的電源(yuan)會被(bei)自(zi)動(dong)切(qie)斷。

　　在箱(xiang)頂(ding)有標準引(yin)線(xian)孔管(guan)，方便用(yong)戶向箱(xiang)內(nei)引(yin)入(ru)傳感(gan)器線(xian)，檢測(ce)電纜(lan)等(deng)類(lei)型(xing)引(yin)線(xian)。

控制(zhi)系(xi)統(tong)

　　低(di)溫區、高(gao)溫區轉(zhuan)換(huan)時(shi)間(jian)小於(yu)等(deng)於15秒。

　　溫(wen)度(du)恢(hui)復時間(jian)小於(yu)等(deng)於5分(fen)鐘(zhong)。

符(fu)合標準

　　GB/T2423.1.2-2001 GJB150.5 GB10592-89

參(can)數列(lie)表(biao)

選(xuan)型(xing)

溫(wen)度(du)運(yun)行控制(zhi)系(xi)統(tong)

標準配(pei)置(zhi)

　　多(duo)層(ceng)加熱觸(chu)霜(shuang)附照(zhao)明玻璃視(shi)窗(chuang)1套(tao)、試(shi)品架(jia)2個、測(ce)試(shi)引(yin)線(xian)孔（25、50mm）1個(ge)。

安(an)全保(bao)護(hu)

　　漏(lou)電、短(duan)路、超(chao)溫(wen)、電機過熱、壓縮(suo)機超壓、過載、過電流(liu)保(bao)護(hu)。

溫(wen)度(du)轉(zhuan)換(huan)時(shi)間(jian)

　　從低(di)溫區(qu)到(dao)高(gao)溫區或 <, /SPAN>從高(gao)溫區到(dao)低(di)溫區(qu) ≤15S。

溫度(du)回復時間(jian)

　　≤5min（與(yu)溫(wen)度(du)恢(hui)復條(tiao)件有關，既(ji)冷(leng)卻水溫(wen)、暴露(lu)溫(wen)差(cha)、恒溫時(shi)間(jian)、樣品重(zhong)量(liang)有關。

溫(wen)度(du)沖(chong)擊方法

　　垂(chui)直(zhi)兩箱(xiang)法(fa) / 垂(chui)直(zhi)三(san)箱(xiang)法(fa)。

三(san)槽(cao)式(shi)冷(leng)熱沖擊試(shi)驗箱(xiang)JW-TS-80三(san)箱(xiang)式(shi)冷(leng)熱沖擊試(shi)驗箱(xiang)&兩槽(cao)式(shi)高(gao)低溫沖(chong)擊試(shi)驗箱(xiang)。該產(chan)品適(shi)用(yong)於電子(zi)元氣件的安(an)全性能(neng)測試(shi)提供可靠性試(shi)驗、產(chan)品篩(shai)選(xuan)試(shi)驗等(deng)，同時通(tong)過此(ci)裝(zhuang)備試(shi)驗，可提高(gao)產(chan)品的可靠性和進行產(chan)品的質量控制(zhi)。高(gao)低溫沖(chong)擊試(shi)驗箱(xiang)是(shi)航(hang)空(kong)、汽(qi)車、家電、科(ke)研等(deng)領域*的測試(shi)設備。