制(zhi)冷(leng)方法分為(wei)蒸(zheng)氣(qi)壓(ya)縮(suo)式制(zhi)冷(leng)、吸收式制冷(leng)、 蒸(zheng)氣(qi)噴(pen)射(she)式制(zhi)冷(leng)、氣(qi)體(ti)膨脹式制(zhi)冷(leng)、熱電(dian)制冷(leng)。在上(shang)述制(zhi)冷(leng)方法中，蒸(zheng)氣(qi)壓(ya)縮(suo)制冷(leng)是較(jiao)經濟(ji)而(er)且(qie)應用(yong)較(jiao)廣(guang)泛(fan)的(de)制(zhi)冷(leng)方式(shi)，亦是環(huan)境(jing)試驗設備(bei)中較(jiao)常使用(yong)的(de)制(zhi)冷(leng)方式(shi)，其(qi)原理(li)是利(li)用(yong)氟利(li)昂等液體的(de)蒸(zheng)發潛熱從被(bei)冷(leng)卻(que)物體中吸熱而實(shi)現(xian)制(zhi)冷(leng)。

恒溫(wen)恒濕(shi)試驗(yan)箱適(shi)用(yong)於儀器儀表(biao)材(cai)料(liao)、電(dian)工、電(dian)子產品、家用電(dian)器、汽(qi)摩(mo)配(pei)件(jian)、化工塗(tu)料(liao)、各(ge)種(zhong)電(dian)子元器件及(ji)其(qi)他相(xiang)關產品零部(bu)件在(zai)高(gao)溫(wen)、低(di)溫(wen)、濕(shi)度(du)的環(huan)境(jing)下(xia)貯存(cun)、運(yun)輸(shu)、使用(yong)時(shi)的(de)適應性(xing)試(shi)驗。本(ben)試驗設備(bei)主(zhu)要(yao)用(yong)於對(dui)產品按(an)照(zhao)國家標準(zhun)要求(qiu)或(huo)用戶自(zi)定(ding)要求(qiu)，在(zai)低溫(wen)、高(gao)溫(wen)條(tiao)件下(xia)，對產品的物理(li)以及其(qi)他相(xiang)關特(te)性進(jin)行(xing)環(huan)境(jing)模擬測(ce)試，測(ce)試後(hou)，通(tong)過(guo)檢測(ce)，來(lai)判(pan)斷(duan)產品的性能(neng)，是否(fou)仍然能(neng)夠符(fu)合預(yu)定(ding)要求(qiu)，以便於產品設計。

步入式(shi)恒溫(wen)恒濕(shi)試驗(yan)箱JW-2208DC 1.內箱尺(chi)寸：W2000X H2000X D2000mm 2.外型尺寸：約W3500X H2400X D2400mm （不含(han)循(xun)環(huan)風(feng)機） 3.溫(wen)度(du)均(jun)勻度(du)：+2～-3％（＞75％RH）±5％（≤75％RH）

可(ke)程式恒溫(wen)恒濕(shi)試驗(yan)箱JW-2005D 1.標稱(cheng)內箱尺(chi)寸（mm）：W 600×H 750 ×D 500 2.標稱(cheng)內容(rong)積(ji)(L)：225 L 3.溫(wen)度(du)範(fan)圍(wei)：-50℃～+150℃

三(san)層式恒溫(wen)恒濕(shi)試驗(yan)箱:溫(wen)度(du)均(jun)勻度(du)：≤2.0℃（溫(wen)度(du)均(jun)勻度(du)為每(mei)次(ci)測(ce)試中實(shi)測(ce)嘴高(gao)溫(wen)度(du)和(he)低(di)溫(wen)度(du)之差(cha)的(de)算術平(ping)均(jun)值）

天津(jin)可程式恒溫(wen)恒濕(shi)試驗(yan)箱 標準(zhun)溫(wen)度(du)範(fan)圍(wei)：0~150℃, -20~150℃, -30~150℃, -40~150℃, -50~150℃ -60~150℃ , -70~150℃ 標準(zhun)濕(shi)度(du)範(fan)圍(wei)：20%~98%RH 溫(wen)度(du)波動(dong)度(du)：≤±0.5℃ 溫(wen)度(du)均(jun)勻度(du)：≤±2℃ 濕(shi)度(du)偏(pian)差(cha)度(du)：±3%RH